特許
J-GLOBAL ID：200903041460518168
イオン移動度分析及びイオントラップ質量分析のための単一装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (6件)：
社本 一夫
, 小野 新次郎
, 小林 泰
, 千葉 昭男
, 富田 博行
, 竹内 茂雄
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-517564
公開番号（公開出願番号）：特表2007-524964
出願日： 2004年06月21日
公開日（公表日）： 2007年08月30日
要約：
単一組の複数の電極であり、イオンの試料に対してイオン移動度に基づく分析と質量分析(MS)とを共に実行するために、単一組の複数の電極に異なる電位が異なる時間に印加されるが、そこでは、荷電粒子ならびに原子、分子、粒子、亜原子粒子、及びイオンに由来する荷電粒子を閉じ込め、分離し、断片化し、かつ/又は分析するために、イオン移動度に基づく分析と質量分析とを、任意の順序で、任意の回数で、かつ分離された又は重畳された手順として実行することによってイオンが処理される。本発明は、外部円筒電極(14)と同軸配置された環状棒電極(12)として示された、質量分析とFAIMSとを共に実行できる単一装置(10)である。FAIMSを実行するために、典型的に環状棒電極(12)は定電位又はグラウンドに維持され、非対称FAIMS波形が外部円筒電極(14)に印加される。
請求項（抜粋）：
荷電粒子と、原子、分子、粒子、亜原子粒子、およびイオンに由来する荷電粒子と、のイオン移動度及び質量対電荷比にしたがって、イオンを分離するために単一装置を使用する方法であって、前記方法は、
1)単一装置中のイオン移動度に基づく質量分析のシステムを提供する工程であって、前記単一装置は少なくとも2つの電極から構成され、前記2つの電極間に電界を生成するようにされている、イオン移動度に基づく質量分析のシステムを提供する工程と、
2)前記イオンの、イオン移動度、電荷、サイズ、質量、及び断面積に基づいて、イオンを分離する工程と、を含む方法。
IPC (4件)：
H01J 49/40
, H01J 49/06
, H01J 49/42
, G01N 27/60
H01J49/40
, H01J49/06
, H01J49/42
, G01N27/60 C
, G01N27/60 D
2G041BA02
, 2G041BA18
, 2G041CA01
, 2G041CA02
, 2G041GA08
, 2G041KA01
, 5C038FF04
, 5C038JJ13
