特許
J-GLOBAL ID：200903041640831158

光画像計測装置及び光画像計測装置を制御するプログラム

発明者：
木川 勉

木川 勉 について

, 
諏訪 明宏

諏訪 明宏 について


出願人/特許権者：
株式会社トプコン

株式会社トプコン について


代理人 (1件)： 三澤 正義
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-044653
公開番号（公開出願番号）：特開2008-209166
出願日： 2007年02月23日
公開日（公表日）： 2008年09月11日
要約：
【課題】被検眼の画像を取得するときに被検眼を効果的に固視させる。【解決手段】眼底観察装置1(光画像計測装置)は、低コヒーレンス光L0を眼底Efに向かう信号光LSと参照ミラー174に向かう参照光LRとに分割し、眼底Efを経由した信号光LSと参照ミラー174を経由した参照光LRとを重畳させて干渉光LCを生成し、この干渉光LCを検出して断層画像を形成する。放射状の複数の走査線Riに沿って信号光LSを走査することにより、放射状の複数の断面における断層画像Giが得られる。3次元画像形成部231は、走査線Riの間隔が閾値以下である領域における3次元画像を形成する。また、眼底Efの領域を指定すると、この指定領域のサイズに応じた本数の走査線Riを自動設定する。また、走査線Riの本数を指定すると、その指定本数に応じた領域の3次元画像を形成する。【選択図】図5
請求項（抜粋）：
低コヒーレンス光を出力する光源と、 該出力された低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割し、被測定物体を経由した信号光を前記参照光に重畳させて干渉光を生成する干渉光生成手段と、 前記被測定物体に対する前記信号光の照射位置を走査する走査手段と、 前記生成された干渉光を検出する検出手段と、 を有し、該検出手段による検出結果に基づいて前記被測定物体の画像を形成する光画像計測装置であって、 前記走査手段を制御し、放射状の複数の走査線に沿って前記照射位置を走査させる制御手段と、 前記検出手段による検出結果に基づいて前記複数の走査線のそれぞれにおける断層画像を形成し、該形成された複数の断層画像に基づいて前記被測定物体の3次元画像を形成する画像形成手段と、 を備えることを特徴とする光画像計測装置。
IPC (5件)：
G01B 11/24 ,  G01B 9/02 ,  A61B 3/12 ,  A61B 3/14 ,  G01N 21/17
FI (5件)：
G01B11/24 D ,  G01B9/02 ,  A61B3/12 E ,  A61B3/14 A ,  G01N21/17 625
Fターム (62件)：
2F064AA09 ,  2F064EE01 ,  2F064EE04 ,  2F064FF03 ,  2F064GG02 ,  2F064GG03 ,  2F064GG12 ,  2F064GG24 ,  2F064GG41 ,  2F064GG44 ,  2F064GG49 ,  2F064GG52 ,  2F064HH08 ,  2F064JJ04 ,  2F065AA30 ,  2F065AA52 ,  2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065BB17 ,  2F065CC16 ,  2F065DD06 ,  2F065FF04 ,  2F065FF52 ,  2F065GG07 ,  2F065GG23 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL02 ,  2F065LL04 ,  2F065LL12 ,  2F065LL13 ,  2F065LL24 ,  2F065LL42 ,  2F065LL62 ,  2F065LL67 ,  2F065MM16 ,  2F065MM26 ,  2F065MM28 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ31 ,  2F065SS02 ,  2F065SS13 ,  2G059AA06 ,  2G059BB12 ,  2G059EE02 ,  2G059EE09 ,  2G059EE12 ,  2G059FF02 ,  2G059GG02 ,  2G059HH01 ,  2G059HH02 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ03 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ15 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK04 ,  2G059MM01 ,  2G059MM10 ,  2G059PP04
引用特許：
出願人引用 (9件)
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審査官引用 (5件)
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