特許
J-GLOBAL ID:200903041809433831

3次元形状計測方法およびその装置

発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-330582
公開番号(公開出願番号):特開2003-130621
出願日: 2002年11月14日
公開日(公表日): 2003年05月08日
要約:
【要約】【課題】簡易なシステム構成にて3次元形状を計測することを図る。【解決手段】本発明は、ラインレーザ光源(1-1a)に発光ダイオード(1-1b)をマーカーとして取り付けた装置(1-1)と、撮像装置(1-2)、および計算用コンピュータ(1-3)からなる3次元形状計測装置であり、計測の際には装置(1-1)を用いて計測対象物体(1-4)にラインレーザ光をあて、その照射ラインレーザ光(1-5)と発光ダイオードを同時に撮像装置(1-2)で撮影し、得られた画像データを用いて、三角測量の原理で計算用コンピュータ(1-3)にて3次元の形状を取得するものである。
請求項(抜粋):
ラインレーザ光源(1-1a)に発光ダイオード(1-1b)をマーカーとして取り付けた装置(1-1)と、撮像装置(1-2)、および計算用コンピュータ(1-3)からなる3次元形状計測装置。
IPC (3件):
G01B 11/24 ,  G06T 1/00 315 ,  G06T 1/00 400
FI (3件):
G06T 1/00 315 ,  G06T 1/00 400 M ,  G01B 11/24 K
Fターム (24件):
2F065AA19 ,  2F065AA53 ,  2F065BB29 ,  2F065FF01 ,  2F065FF02 ,  2F065FF09 ,  2F065GG04 ,  2F065GG07 ,  2F065GG16 ,  2F065HH05 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ19 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL30 ,  2F065NN11 ,  5B047AA07 ,  5B047AA11 ,  5B047BC12 ,  5B047CA17 ,  5B057AA01 ,  5B057BA02 ,  5B057DA07 ,  5B057DA17 ,  5B057DB03
引用特許:
審査官引用 (1件)
  • 形状測定装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平11-146905   出願人:三洋電機株式会社

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