特許
J-GLOBAL ID：200903041897347893
走査型無開口蛍光顕微鏡のための改良された方法およびシステム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
木村 満
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-527702
公開番号（公開出願番号）：特表2005-535878
出願日： 2003年07月30日
公開日（公表日）： 2005年11月24日
要約：
1つ以上の特徴部を、物体に関する分子感度まで観察するための無開口顕微鏡を操作する方法とシステムとを説明する。より具体的には、この方法は、カンチレバーと一体化したプローブ・チップを試料の特徴部近傍で移動させることを含み、その特徴部近傍にプローブ・チップがあることに基づき、その試料の特徴部は、1つ以上の光子を、その試料のバックグラウンド・ノイズ発生率と相対的な検出した率で放射する。この方法は、その試料の特徴部の検出した率を変更し、その結果、試料の特徴部は、検出した率の変更により、その特徴部のバックグラウンド・ノイズ発生率に対しコントラストを強める。
請求項（抜粋）：
物体から放射される光子を検出することで、ナノスケールの前記物体の特徴を測定する方法であって、この方法は、
カンチレバーと一体化したプローブ・チップを、試料の特徴部からの発光率に影響を及ぼすように、この試料の特徴部に向けて移動させ、
前記カンチレバーが第1の所定部分を移動する間、前記試料からの信号を検出器で捕捉するために、第1の強度レベルを持つ電磁エネルギーを用いてこの試料の前記特徴部を照射し、
前記カンチレバーが第2の所定部分を移動する間、前記第1の強度レベルを第2の強度レベルに変更することを有することを特徴とする方法。
IPC (3件)：
G01N13/14
, G01B11/30
, G02B21/00
G01N13/14 A
, G01N13/14 B
, G01B11/30 Z
, G02B21/00
2F065AA49
, 2F065FF00
, 2F065GG05
, 2F065HH04
, 2F065HH13
, 2F065JJ03
, 2F065JJ09
, 2F065JJ18
, 2F065LL20
, 2F065LL22
, 2F065LL57
, 2F065MM06
, 2F065NN01
, 2F065NN08
, 2F065PP04
, 2H052AA07
, 2H052AA09
, 2H052AC15
, 2H052AC27
