特許
J-GLOBAL ID:200903042336363810

バッテリの劣化度推定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 伊藤 進
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-282430
公開番号(公開出願番号):特開2006-098135
出願日: 2004年09月28日
公開日(公表日): 2006年04月13日
要約:
【課題】バッテリの開放電圧の変動の影響を考慮して内部抵抗測定の精度を向上し、バッテリの劣化度を正確に把握する。 【解決手段】内部抵抗演算部3bにおいて、充放電中のバッテリ2の電流I,端子電圧V,温度Tのデータから直線回帰により内部抵抗を算出し、予め記憶してある初期値に対する内部抵抗の増加率を求め、この内部抵抗増加率を統計処理してバッテリの劣化度を推定する。内部抵抗の測定に際しては、残存容量演算部3aで算出した残存容量SOC,SOCv間の偏差とヒステリシス関数Qhとの少なくとも一方を用いてデータ取得のトリガーとし、電流-電圧データの直線性を損なうデータを排除することにより、精度を確保する。これにより、バッテリの開放電圧の変動の影響を考慮して内部抵抗測定の精度を向上し、バッテリの劣化度を正確に把握することができる。【選択図】図2
請求項(抜粋):
バッテリの充放電電流の積算値に基づく第1の残存容量と上記バッテリの開放電圧に基づく第2の残存容量とを重み付け合成して上記バッテリの最終的な残存容量を算出する残存容量算出手段と、 上記バッテリの開放電圧の変動の程度を表す関数を、上記バッテリの温度と充放電電流とに基づいて表現されるヒステリシス関数として算出するヒステリシス関数算出手段と、 上記残存容量算出手段で算出した最終的な残存容量と上記第2の残存容量との残存容量の偏差を算出する残存容量偏差算出手段と、 上記ヒステリシス関数と上記残存容量の偏差との少なくとも一方を用いて、上記バッテリの電圧及び電流データを取得するタイミングを判定し、取得した電圧及び電流データから上記バッテリの内部抵抗値を算出する内部抵抗値算出手段と、 上記内部抵抗値算出手段で算出した内部抵抗値を初期値と比較して上記バッテリの内部抵抗増加率を算出し、上記バッテリの劣化度を推定する指標とする内部抵抗増加率算出手段とを備えたことを特徴とするバッテリの劣化度推定装置。
IPC (3件):
G01R 31/36 ,  H01M 10/48 ,  H02J 7/00
FI (3件):
G01R31/36 A ,  H01M10/48 P ,  H02J7/00 Y
Fターム (22件):
2G016CA03 ,  2G016CB06 ,  2G016CB12 ,  2G016CC01 ,  2G016CC03 ,  2G016CC04 ,  2G016CC07 ,  2G016CC13 ,  2G016CC26 ,  2G016CC27 ,  2G016CC28 ,  5G003BA03 ,  5G003EA05 ,  5G003EA08 ,  5G003FA06 ,  5H030AA03 ,  5H030AA04 ,  5H030AS08 ,  5H030FF22 ,  5H030FF41 ,  5H030FF42 ,  5H030FF44
引用特許:
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (3件)

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