特許
J-GLOBAL ID:200903042480509218
記憶素子及び記憶装置
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (2件):
角田 芳末
, 伊藤 仁恭
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-349787
公開番号(公開出願番号):特開2007-157941
出願日: 2005年12月02日
公開日(公表日): 2007年06月21日
要約:
【課題】データ保持特性の良好な記憶素子を提供する。【解決手段】第1の電極2と第2の電極6との間に記憶層3が配置され、この記憶層3に接して、Cu,Ag,Znから選ばれるいずれかの元素が含まれたイオン源層4が設けられ、記憶層3がNiO,CoO,CeO2から選ばれる1種類以上の酸化物から成る記憶素子10を構成する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
第1の電極と第2の電極との間に、記憶層が配置され、
前記記憶層に接して、Cu,Ag,Znから選ばれるいずれかの元素が含まれたイオン源層が設けられ、
前記記憶層が、NiO,CoO,CeO2から選ばれる1種類以上の酸化物から成る
ことを特徴とする記憶素子。
IPC (3件):
H01L 27/10
, H01L 45/00
, H01L 49/00
FI (4件):
H01L27/10 451
, H01L45/00 A
, H01L45/00 Z
, H01L49/00 Z
Fターム (5件):
5F083FZ10
, 5F083JA36
, 5F083JA37
, 5F083JA39
, 5F083JA40
引用特許:
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