特許
J-GLOBAL ID:200903042480509218

記憶素子及び記憶装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 角田 芳末 ,  伊藤 仁恭
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-349787
公開番号(公開出願番号):特開2007-157941
出願日: 2005年12月02日
公開日(公表日): 2007年06月21日
要約:
【課題】データ保持特性の良好な記憶素子を提供する。【解決手段】第1の電極2と第2の電極6との間に記憶層3が配置され、この記憶層3に接して、Cu,Ag,Znから選ばれるいずれかの元素が含まれたイオン源層4が設けられ、記憶層3がNiO,CoO,CeO2から選ばれる1種類以上の酸化物から成る記憶素子10を構成する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
第1の電極と第2の電極との間に、記憶層が配置され、 前記記憶層に接して、Cu,Ag,Znから選ばれるいずれかの元素が含まれたイオン源層が設けられ、 前記記憶層が、NiO,CoO,CeO2から選ばれる1種類以上の酸化物から成る ことを特徴とする記憶素子。
IPC (3件):
H01L 27/10 ,  H01L 45/00 ,  H01L 49/00
FI (4件):
H01L27/10 451 ,  H01L45/00 A ,  H01L45/00 Z ,  H01L49/00 Z
Fターム (5件):
5F083FZ10 ,  5F083JA36 ,  5F083JA37 ,  5F083JA39 ,  5F083JA40
引用特許:
出願人引用 (1件) 審査官引用 (2件)

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