クロマトグラフ質量分析計

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：小林良平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-001745
公開番号（公開出願番号）：特開2000-206103
出願日： 1999年01月07日
公開日（公表日）： 2000年07月28日
要約：

【要約】【課題】移動相として用いられる物質に起因する非分析対象イオン群による影響を受けることなく、試料中の微量成分でも検出できるようなクロマトグラフ質量分析計を提供する。【解決手段】試料の分離成分に対応するピークが検出されない時間帯に質量分析部のイオン検出器が出力する信号を処理することにより得られるマススペクトルをバックグラウンドノイズとして原マススペクトルから減算することにより差分マススペクトルを得る。この差分マススペクトルを用いれば、移動相に起因するノイズを含まない良好なクロマトグラムが得られる。

請求項（抜粋）：

質量分析部のイオン検出器の出力信号を処理することにより得られる原マススペクトルからクロマトグラフ部で移動相として用いられる物質に起因するイオンのマススペクトルを減算することにより得られる差分マススペクトルを用いてクロマトグラムを作成するクロマトグラム作成手段を備えることを特徴とするクロマトグラフ質量分析計。

IPC (3件)：

G01N 30/86 , G01N 27/62 , G01N 30/72

FI (4件)：

G01N 30/86 L , G01N 30/86 H , G01N 27/62 X , G01N 30/72 C

引用特許：

審査官引用 (6件)

クロマトグラフの吸光分析装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平3-186792 出願人：株式会社島津製作所
特開昭61-260149
特開昭62-172261

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