特許
J-GLOBAL ID：200903042701790200
試料検索方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
佐藤 辰彦
, 鷺 健志
, 本間 賢一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-051652
公開番号（公開出願番号）：特開2004-257986
出願日： 2003年02月27日
公開日（公表日）： 2004年09月16日
要約：
【課題】未知の高分子試料に一致する割合が高い既知の高分子を容易に絞り込みできる試料検索方法を提供する。【解決手段】未知の高分子試料を熱分解しガスクロマトグラフ装置を用いて分離する。分離された各熱分解成分から生成した分子イオン及びフラグメントイオンのトータルイオン強度を算出し、未知試料のクロマトグラムを作成する。該トータルイオン強度に含まれる該検出データを同一質量のイオン毎に合算し質量順に配列して合算マススペクトルを作成する。該合算マススペクトルと、第1のデータベースとを比較し、未知試料の合算マススペクトルに一致する割合の高い既知の高分子を選択する。選択された既知の高分子のクロマトグラムを、第2のデータベースから抽出し、抽出されたクロマトグラムと該未知試料のクロマトグラムとを比較して、未知試料に一致する割合の高い既知の高分子を絞り込む。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
未知の高分子試料を熱分解して得られる個々の熱分解成分をガスクロマトグラフ装置を用いて分離する工程と、
分離された各熱分解成分を所定時間毎にイオン化して生成した分子イオン及びフラグメントイオンの強度を検出して該高分子試料の検出データとすると共に、該所定時間毎の検出で得られた該高分子試料の検出データを1組として該検出データを1組毎に加算してトータルイオン強度とし、該トータルイオン強度を検出順に配列して構成されるヒストグラムの各頂点を結ぶことにより該高分子試料のクロマトグラムを作成する工程と、
該クロマトグラムの少なくとも一部を構成する各ピークに対応する該トータルイオン強度に含まれる該検出データを同一質量のイオン毎に合算して該分子イオン及びフラグメントイオンの強度の合算データとし、該合算データが該分子イオン及びフラグメントイオンの質量順に配列された合算マススペクトルを作成する工程と、
該合算マススペクトルと、複数の既知の高分子の合算マススペクトルにより構築された第1のデータベースとを比較し、該未知の高分子試料の合算マススペクトルに一致する割合の高い既知の高分子の合算マススペクトルを検索し、該未知の高分子試料に一致する割合の高い複数の既知の高分子を選択する工程と、
選択された既知の高分子のクロマトグラムを、複数の既知の高分子のクロマトグラムにより構築された第2のデータベースから抽出し、抽出されたクロマトグラムと該未知の高分子試料のクロマトグラムとを比較して、該未知の高分子試料に一致する割合の高い既知の高分子を絞り込む工程とを備えることを特徴とする試料検索方法。
IPC (5件)：
G01N30/86
, G01N27/62
, G01N30/06
, G01N30/72
, G01N30/88
G01N30/86 G
, G01N27/62 C
, G01N27/62 V
, G01N30/06 G
, G01N30/72 A
, G01N30/88 P
