特許
J-GLOBAL ID：200903042968734636

放射線検査装置

発明者：
石井 慶造

石井 慶造 について


出願人/特許権者：
住友重機械工業株式会社

住友重機械工業株式会社 について

, 
石井 慶造

石井 慶造 について


代理人 (3件)： 長谷川 芳樹 ,  寺崎 史朗 ,  黒木 義樹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-392738
公開番号（公開出願番号）：特開2005-156252
出願日： 2003年11月21日
公開日（公表日）： 2005年06月16日
要約：
【課題】 半導体検出器を備えた放射線検査装置において、1mm以下の空間分解能を達成する。【解決手段】 被検体S内にある放射性同位元素からのガンマ線を検出して同時計数し、放射性同位元素の被検体S内における分布情報を取得する放射線検査装置10である。この装置10は、被検体Sを挟んで所定間隙をおいて対向配置されており、ガンマ線を検出するための一対の半導体検出器14を備える。そして、一対の半導体検出器14それぞれの対向面20は、互いに直交する第1及び第2の方向の長さT1,T2により規定され、第1の方向の長さT1が2mm以下である。【選択図】 図3
請求項（抜粋）：
被検体内にある放射性同位元素からのガンマ線を検出して同時計数し、該放射性同位元素の該被検体内における分布情報を取得する放射線検査装置であって、 前記被検体を挟んで所定間隙をおいて対向配置され、前記ガンマ線を検出するための一対の半導体検出器を備え、 前記一対の半導体検出器それぞれの対向面は、互いに直交する第1及び第2の方向の長さにより規定され、該第1の方向の長さが2mm以下であることを特徴とする放射線検査装置。
IPC (2件)：
G01T1/161 ,  G01T1/24
FI (3件)：
G01T1/161 C ,  G01T1/161 A ,  G01T1/24
Fターム (8件)：
2G088EE01 ,  2G088EE02 ,  2G088FF07 ,  2G088GG21 ,  2G088JJ01 ,  2G088JJ02 ,  2G088KK01 ,  2G088KK15
引用特許：
出願人引用 (2件) 審査官引用 (16件)
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