粒度分布測定装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：西岡義明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-169381
公開番号（公開出願番号）：特開平10-019756
出願日： 1996年06月28日
公開日（公表日）： 1998年01月23日
要約：

【要約】【課題】気泡による回折/散乱光の影響を受けない粒度分布測定装置を提供する。【解決手段】測定開始と同時に電磁バルブ7を開き、被測定粒子群を分散させた懸濁液をフローセル4を通過させて排出する。このフローセル4内を流れる懸濁液にレーザ光を照射して得られる回折/散乱光の強度分布をリングディテクタ10等で測定し、その強度分布の測定結果から被測定粒子群の粒度分布を求めるともに、フローセル4内に導入される懸濁液の有無を検出する媒液センサ11によって、懸濁液がなくなったことが検出されたとき、フローセル4を通過した懸濁液の流れを止める電磁バルブ7を閉じ、フローセル4への気泡の混入を防ぐとともに、リングディテクタ10等によるデータサンプリングを終了する。

請求項（抜粋）：

被測定粒子群を媒液中に分散させてなる懸濁液をフローセルを通過させて排出するサンプリング系と、フローセル内を流れる懸濁液にレーザ光を照射して得られる回折/散乱光の強度分布を測定する測定光学系と、その強度分布の測定結果から被測定粒子群の粒度分布を算出する演算部とを備えた粒度分布測定装置において、前記サンプリング系は、フローセル内に導入される懸濁液の有無を検出する媒液センサを備え、前記媒液センサで懸濁液がなくなったことが検出されたとき、回折/散乱光の測定を終了するよう構成されたことを特徴とする粒度分布測定装置。

引用特許：

審査官引用 (5件)

粒子計数装置及び粒子計数方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-281957 出願人：リオン株式会社
特開平2-036334
粒度分布測定装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-015891 出願人：株式会社島津製作所

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