特許
J-GLOBAL ID:200903044273185219

電磁波照射装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 角田 芳末 ,  伊藤 仁恭
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-349773
公開番号(公開出願番号):特開2007-151757
出願日: 2005年12月02日
公開日(公表日): 2007年06月21日
要約:
【課題】処理対象物であるセパレートシートや物を載せるパレット等の平面体に電磁波(紫外線)を照射して殺菌等を行うようにした電磁波照射装置において、処理対象物に照射される電磁波の照射強度や照射量を正確に測定できるようにする。【解決手段】処理対象物2に電磁波を照射する電磁波発生源31と、この電磁波発生源31から発せられる電磁波の強度を検出する電磁波検出センサ32と、を備え、ここで電磁波検出センサ32は、処理対象物2が通過しない位置(電磁波発生源31を挟んで処理対象物2と反対側となる位置)で、かつ電磁波発生源31からの距離が処理対象物2と電磁波発生源31との間の距離と略等しい位置に設置される構成とする。この構成では、処理対象物2が受けている電磁波と略等しい強さの電磁波を電磁波検出センサ32で検出することになるので、限りなく実態に近い電磁波の照射強度や照射量の測定が可能となる。【選択図】図4
請求項(抜粋):
処理対象物がセパレートシートや物を載せるパレット等の平面体であって、 上記処理対象物を搬送する搬送手段と、 上記搬送手段によって搬送される上記処理対象物に電磁波を照射して殺菌する電磁波発生源と、 上記電磁波発生源から発せられる電磁波の強度を検出する電磁波検出センサと、 を備え、 上記電磁波検出センサは、上記処理対象物に照射される電磁波と略等しい強さの電磁波を上記電磁波発生源から受ける位置に設置されていることを特徴とする電磁波照射装置。
IPC (4件):
A61L 2/10 ,  B01J 19/12 ,  B65B 55/08 ,  B65B 55/04
FI (4件):
A61L2/10 ,  B01J19/12 C ,  B65B55/08 A ,  B65B55/04 Z
Fターム (12件):
4C058AA24 ,  4C058BB06 ,  4C058KK02 ,  4C058KK22 ,  4C058KK44 ,  4C058KK50 ,  4G075AA30 ,  4G075AA61 ,  4G075CA33 ,  4G075DA02 ,  4G075EB32 ,  4G075EB37
引用特許:
出願人引用 (1件) 審査官引用 (7件)
  • 紫外線照射装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2002-265318   出願人:日本電池株式会社
  • 特開昭57-072650
  • 紫外線殺菌装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平10-061511   出願人:株式会社豊振科学産業所
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