特許
J-GLOBAL ID：200903044641344489
プロービング特性試験装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
岡田 守弘
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-001674
公開番号（公開出願番号）：特開平8-189939
出願日： 1995年01月10日
公開日（公表日）： 1996年07月23日
要約：
【要約】【目的】 本発明は、プローブを被試験回路基板上の接続端子の上を移動させて試験を行うプロービング特性試験装置に関し、ファインピッチの回路基板であっても1本あるいは複数本のプローブで順次走査し、いずれのピッチについても任意の試験回路に接続して試験を可能にすることを目的とする。【構成】 1本あるいは複数本のプローブを被試験回路基板上の接続端子の上を移動させる移動機構と、この移動機構によって1本あるいは複数本のプローブを被試験回路基板上の接続端子に接触させた状態で、該当する試験回路に切り換える切替回路と、この切替回路によって切り換えられた試験回路が1本あるいは複数本のプローブを介して信号を受信あるいは送出して試験を行う試験回路とを備え、この試験回路によって試験された結果を出力するように構成する。
請求項（抜粋）：
1本あるいは複数本のプローブを被試験回路基板上の接続端子の上を移動させる移動機構と、この移動機構によって1本あるいは複数本のプローブを被試験回路基板上の接続端子に接触させた状態で、該当する試験回路に切り換える切替回路と、この切替回路によって切り換えられた試験回路が1本あるいは複数本のプローブを介して信号を受信あるいは送出して試験を行う試験回路とを備え、この試験回路によって試験された結果を出力するように構成したことを特徴とするプロービング特性試験装置。
IPC (3件)：
G01R 1/067
, G01R 31/02
, H05K 3/00
