特許
J-GLOBAL ID：200903044826435154
フィルムに対する欠陥検査方法およびその装置並びにフィルム状製品、その加工方法およびその加工システム
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
小川 勝男 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-012390
公開番号（公開出願番号）：特開2003-215051
出願日： 2002年01月22日
公開日（公表日）： 2003年07月30日
要約：
【要約】【課題】粒子などのフィラーが存在するフィルムの中から、迅速かつ高精度な欠陥検査を可能にし、該欠陥検査の情報を記録若しくは添付してフィルム状製品として提供するフィルム対する欠陥検査方法とその装置並びにフィルム状製品を提供することにある。【解決手段】光学的特性が異なる粒子などのフィラーが存在するフィルム状検査対象に対して、斜方照明と落射照明の2系統の検出光学系を備え、照明光の照射角および照明光の波長を選択することで、撮像される画像から欠陥とフィルム中に存在するフィラーの濃淡度の相違を検出し、これに基づいて欠陥を弁別し、さらに欠陥種、大きさ、欠陥の検出座標を検査結果として記録若しくは添付することで、フィルム状製品の品質管理を改善して付加価値を高める。
請求項（抜粋）：
フィルム状被検査対象を走行させる走行工程と、該走行工程で走行されるフィルム状被検査対象に対して斜方から斜方照明光を集光して照射し、前記フィルム状被検査対象で反射した反射光をフィルム状被検査対象の法線方向から受光して第1の画像信号として検出し、該検出された第1の画像信号に基づいて第1の欠陥を検出する第1の欠陥検出工程と、前記走行工程で走行されるフィルム状被検査対象に対して法線方向から垂直照明光を集光して照射し、前記フィルム状被検査対象で反射した反射光を前記フィルム状被検査対象の法線方向から受光して第2の画像信号として検出し、該検出された第2の画像信号に基づいて第2の欠陥を検出する第2の欠陥検出工程と、前記第1および第2の欠陥検出工程によって検出された第1および第2の欠陥に関する情報を前記フィルム状被検査対象に記録若しくは添付する記録若しくは添付工程とを有することを特徴とするフィルムに対する欠陥検査方法。
Fターム (19件)：
2G051AA41
, 2G051AB06
, 2G051BA01
, 2G051BA02
, 2G051BA04
, 2G051BA08
, 2G051BB07
, 2G051BC06
, 2G051CA03
, 2G051CA07
, 2G051CB01
, 2G051CB02
, 2G051CB05
, 2G051DA06
, 2G051DA15
, 2G051EA11
, 2G051EA12
, 2G051EA14
, 2G051EB01
