特許
J-GLOBAL ID:200903044912912046
3次元計測装置
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
久保 幸雄
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-076845
公開番号(公開出願番号):特開平11-271030
出願日: 1998年03月25日
公開日(公表日): 1999年10月05日
要約:
【要約】【課題】1つの3次元計測装置を用いて種々の計測条件によって様々な目的の計測に対応できること。【解決手段】計測対象に参照光を照射する手段と、参照光を走査する手段と、参照光の計測対象による反射光を受光する受光センサと、参照光の走査中に受光センサを繰り返して駆動して出力信号を読み出す手段とを有し、受光センサの出力信号に基づいて計測対象の3次元形状を計測する3次元計測装置において、動作モードを選択する手段と、選択された動作モードに応じて、受光センサの有効受光領域のライン幅及び読み出しにおけるライン間隔を切り換える手段と、選択された動作モードに応じて、受光センサの読み出しにおけるフレーム毎のラインのシフト数を切り換える手段と、を有してなる。
請求項(抜粋):
計測対象に参照光を照射する手段と、前記参照光を走査する手段と、前記参照光の計測対象による反射光を受光する受光センサと、前記参照光の走査中に前記受光センサを繰り返して駆動して出力信号を読み出す手段とを有し、前記受光センサの出力信号に基づいて計測対象の3次元形状を計測する3次元計測装置において、動作モードを選択する手段と、選択された動作モードに応じて、前記参照光の走査速度及び前記受光センサの読み出し動作を切り換える手段と、を有してなることを特徴とする3次元計測装置。
IPC (4件):
G01B 11/24
, G01B 11/00
, G06T 7/00
, G06T 1/00
FI (4件):
G01B 11/24 A
, G01B 11/00 B
, G06F 15/62 415
, G06F 15/64 M
引用特許: