特許

J-GLOBAL ID：200903045825546560

チップの測定端子

発明者： 窪田 滋 ,  久保 雅宏
出願人/特許権者： 日東工業株式会社
代理人 (1件)： 川崎 隆夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-151469
公開番号（公開出願番号）：特開2000-338156
出願日： 1999年05月31日
公開日（公表日）： 2000年12月08日
要約：

【要約】 (修正有)【課題】抵抗値その他を測定する測定端子の接触位置をクリーニングするようにして、各チップの均一正確な測定を行えるようにする。【解決手段】チップの各電極1に各測定端子2を上方からばね3の弾力等によって圧接し、次でチップを押上げピン4の垂直上昇で圧接状態のまま設定寸法垂直移動すると同時にチップの抵抗値その他を測定するように備えたチップの測定装置において、各測定端子2をチップの各電極1に対してそれぞれ設定角度傾斜した線上を上下移動自在に備えたものであり、各測定端子2をばね3の弾力等で傾斜線上を下降して各電極1の設定位置P1に接触し、その状態で押上げピン4でチップを設定寸法垂直上昇し各測定端子2を傾斜線上を設定寸法上昇移動することにより、各測定端子2に対する各電極1の接触位置P1を両者が圧接したまま設定位置P2まで摺動移動(P1→P2)するようにした。

請求項（抜粋）：

各種のチップの各電極に各測定端子を上方からばねの弾力等によって圧接し、次で該チップを押上げピンの垂直上昇で前記圧接状態のまま設定寸法垂直移動すると同時にチップの抵抗値その他を測定するように備えたチップの測定装置において、各測定端子をチップの各電極に対してそれぞれ設定角度傾斜した線上を上下移動自在に備えたものであり、各測定端子をばねの弾力等で傾斜線上を下降して各電極の設定位置に接触し、その状態で押上げピンでチップを設定寸法垂直上昇し各測定端子を傾斜線上を設定寸法上昇移動することにより、各測定端子に対する各電極の接触位置を両者が圧接したまま設定位置まで摺動移動するように備えたことを特徴とする、チップの測定端子。

IPC (4件)：

G01R 31/00 ,  G01R 1/073 ,  G01R 27/02 ,  H01G 13/00 361

FI (4件)：

G01R 31/00 ,  G01R 1/073 A ,  G01R 27/02 R ,  H01G 13/00 361 C

Fターム (26件)：

2G011AA14 ,  2G011AB01 ,  2G011AC06 ,  2G011AC13 ,  2G011AC14 ,  2G011AE22 ,  2G028BB01 ,  2G028BB06 ,  2G028BB07 ,  2G028BB20 ,  2G028CG02 ,  2G028HM05 ,  2G028HM08 ,  2G028HN09 ,  2G036AA03 ,  2G036AA27 ,  2G036BB01 ,  2G036BB02 ,  2G036BB22 ,  2G036CA12 ,  5E082AA01 ,  5E082BC38 ,  5E082MM11 ,  5E082MM21 ,  5E082MM22 ,  5E082MM35

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 複数素子チップ部品の測定方法及び装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-148723   出願人：ティーディーケイ株式会社
• チップ部品の電気特性測定方法並びにチップ部品の電気特性測定端子及びこれを用いた電気特性測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-337254   出願人：太陽誘電株式会社