特許

J-GLOBAL ID：200903046067660582

光学特性測定系の制御方法

発明者： 河村 達朗
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 石井 和郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-014930
公開番号（公開出願番号）：特開2000-214079
出願日： 1999年01月22日
公開日（公表日）： 2000年08月04日
要約：

【要約】【課題】 サンプルセルを光学系より取り外して液状被検試料の導入排出等を行う必要がなく、さらにサンプルセル内に泡等の妨害物が混入しても正確に被検試料の光学特性を測定することができる光学特性測定系の制御方法を提供する。【解決手段】 サンプルセルに収容された液状の被検試料に、被検試料中の測定光の進路またはその周辺部に、別途光を投射し、その透過光の強度に基づいて光の透過を妨害する被検試料中の泡または粒子の有無を検出する。泡または粒子の存在が検出されると、サンプルセルへの振動の印加、被検試料の攪拌、除去部材の摺動等により、被検試料中の光の進路よりこれら妨害物を除去する。

請求項（抜粋）：

サンプルセルに収容された液状の被検試料に光を投射し、その透過光を分析することにより、前記被検試料の光学特性を測定する光学特性の測定において、前記被検試料中の前記光の進路またはその周辺部に、別途光を投射し、その透過光の強度に基づいて前記光の透過を妨害する前記被検試料中の泡または粒子の有無を検出するステップと、前記泡または粒子の存在が検出されると、前記サンプルセルを振動させて、前記被検試料中の前記光の進路より前記泡または粒子を除去するステップとを具備する光学特性測定系の制御方法。

IPC (3件)：

G01N 21/15 ,  G01N 21/21 ,  G01N 21/27

FI (3件)：

G01N 21/15 ,  G01N 21/21 Z ,  G01N 21/27 Z

Fターム (27件)：

2G057AA01 ,  2G057AA06 ,  2G057AB01 ,  2G057AB03 ,  2G057AB04 ,  2G057AB06 ,  2G057AC01 ,  2G057AD03 ,  2G057AD12 ,  2G057AD17 ,  2G057BA01 ,  2G057CB05 ,  2G057DC06 ,  2G057JA01 ,  2G059AA02 ,  2G059BB04 ,  2G059DD02 ,  2G059DD05 ,  2G059EE01 ,  2G059GG01 ,  2G059HH02 ,  2G059HH03 ,  2G059JJ07 ,  2G059KK01 ,  2G059NN07 ,  2G059NN10 ,  2G059PP01

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開昭60-161546
  
• 部品の接着方法およびその方法に用いる部品
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-126976   出願人：トヨタ自動車株式会社
• 光学式水質測定器の洗浄方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-208944   出願人：株式会社明電舎