特許
J-GLOBAL ID：200903046370279921

飛行時間型質量分析装置

発明者：
山口 真一

山口 真一 について


出願人/特許権者：
株式会社島津製作所

株式会社島津製作所 について


代理人 (1件)： 小林 良平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-209576
公開番号（公開出願番号）：特開2006-012747
出願日： 2004年07月16日
公開日（公表日）： 2006年01月12日
要約：
【課題】 周回軌道又は往復軌道を有する構成において、少ない分析回数で幅広い質量数範囲の質量分析を行う。 【解決手段】 飛行空間2内の円軌道A出口から検出器までの出射飛行距離が実効的に異なるように2つの検出器3a、3bを所定位置に設け、同一試料に対して、各検出器3a、3bでイオンを検出する質量分析をそれぞれ1回ずつ行う。同一種類のイオンに対する飛行時間には差が生じ、その差は着目しているイオンの質量数に依存する。したがって、飛行時間差からそのイオンについての円軌道Aの周回数(つまりは質量数範囲)を判断し、質量数範囲を絞った上で飛行時間に応じて正確な質量数を算出する。【選択図】 図2
請求項（抜粋）：
イオン源から出発した各種イオンを略同一の周回軌道又は往復軌道に沿って1乃至複数回繰り返し飛行させた後に検出器に導入することで、前記イオンを質量数に応じて分離して検出する飛行時間型質量分析装置において、 a)前記周回軌道又は往復軌道を離れる位置から検出器に到達するまでの実効的な飛行距離が相違する少なくとも2つの状態でのイオンの飛行時間をそれぞれ測定する測定手段と、 b)同一イオンに由来する、前記少なくとも2つの状態に対応した飛行時間の差に基づいて該イオンの質量数を算出又は推定する処理手段と、 を備えることを特徴とする飛行時間型質量分析装置。
IPC (2件)：
H01J 49/40 ,  G01N 27/62
FI (2件)：
H01J49/40 ,  G01N27/62 K
引用特許：
出願人引用 (4件)
全件表示
審査官引用 (3件)
引用文献：
出願人引用 (2件) 審査官引用 (2件)

前のページに戻る

TOP

BOTTOM