特許
J-GLOBAL ID：200903046410592784

断層映像装置

発明者：
藤田 寛

藤田 寛 について


出願人/特許権者：
フジノン株式会社

フジノン株式会社 について


代理人 (1件)： 川野 宏
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-175401
公開番号（公開出願番号）：特開2005-351839
出願日： 2004年06月14日
公開日（公表日）： 2005年12月22日
要約：
【課題】参照ミラーを移動させる駆動機構が不要で、構成が極めて簡易でありながら、干渉信号の振幅検出を正確に行なうことのできる断層映像装置を得る。【構成】干渉計装置部は、光照射光学系部と、信号光および参照光の導光部と、ヤング干渉計部とからなり、全体として、アンバランス型のマイケルソン干渉計装置を構成している。光照射光学系部は、光ファイバ121〜124と、光カプラ125と、2つの光サーキュレータ132、143と、被検体131の前段に配される導光部材133と、コリメータレンズ141と、参照ミラー142とからなる。信号光および参照光の導光部は、2つの光ファイバ126、127からなる。ヤング干渉計部は、各々が点光源とみなせる、光ファイバ126、127の出射端126A、127Aと、被検体断層映像情報を担持した干渉縞を撮像するマルチチャネル検出器152を備えている。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
低可干渉性を有する光を出射する光源と、 該光源から出射された光を2分し、一方を被検体に照射するとともに、他方を参照ミラーに照射するように構成されてなる光照射光学系と、 該光照射光学系からの光照射に基づく前記被検体からの信号光を光出射端に導く第1の導光部材と、 該光照射に基づく前記参照ミラーからの参照光を光出射端に導く第2の導光部材と、 前記第1の導光部材の光出射端から出射された信号光と、前記第2の導光部材の光出射端から出射された参照光とによる干渉光の光強度分布を得る多画素撮像素子とを備えてなることを特徴とする断層映像装置。
IPC (3件)：
G01N21/17 ,  A61B10/00 ,  G01B9/02
FI (3件)：
G01N21/17 620 ,  A61B10/00 E ,  G01B9/02
Fターム (32件)：
2F064AA09 ,  2F064EE01 ,  2F064EE04 ,  2F064FF03 ,  2F064FF07 ,  2F064GG02 ,  2F064GG22 ,  2F064GG24 ,  2F064HH03 ,  2F064HH08 ,  2F064JJ01 ,  2G059AA05 ,  2G059BB12 ,  2G059BB14 ,  2G059CC16 ,  2G059EE09 ,  2G059EE12 ,  2G059FF01 ,  2G059FF08 ,  2G059FF09 ,  2G059GG02 ,  2G059GG10 ,  2G059HH01 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ22 ,  2G059JJ30 ,  2G059KK04 ,  2G059MM01 ,  2G059MM09 ,  2G059MM10 ,  2G059PP04
引用特許：
出願人引用 (1件) 審査官引用 (3件)

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