特許
J-GLOBAL ID:200903046447683593

加工された構成要素の検査方法およびシステム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 松本 研一 ,  小倉 博 ,  黒川 俊久
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-006947
公開番号(公開出願番号):特開2006-201164
出願日: 2006年01月16日
公開日(公表日): 2006年08月03日
要約:
【課題】構成要素(29)を検査する方法および装置を提供する。【解決手段】この方法は、構成要素の形状を定義する複数のデータ点を受け取るステップ(408)と、受け取られたデータ点を、あらかじめ定められたモデル形状を定義する曲線に当てはめるステップ(410)と、構成要素の切断半径を決定するために、受け取られたデータ点をあらかじめ定められたモデル形状を定義する曲線と比較するステップ(412)とを含む。【選択図】図1
請求項(抜粋):
構成要素の形状を定義する複数のデータ点を受け取るステップ(408)と、 前記受け取られたデータ点をあらかじめ定められたモデル形状を定義する曲線に当てはめるステップ(410)と、 前記構成要素の破断半径を決定するために、前記受け取られたデータ点を前記あらかじめ定められたモデル形状を定義する前記曲線と比較するステップ(412)とを含む、構成要素(29)を検査する方法(400)。
IPC (1件):
G01B 5/20
FI (1件):
G01B5/20
Fターム (6件):
2F062AA31 ,  2F062AA51 ,  2F062EE01 ,  2F062FF02 ,  2F062JJ00 ,  2F062JJ08
引用特許:
出願人引用 (3件)
  • 2002年6月11日公告の米国特許第6,401,349号
  • 1998年4月21日公告の米国特許第5,740,616号
  • 1991年2月5日公告の米国特許第4,989,338号
審査官引用 (7件)
全件表示

前のページに戻る