特許
J-GLOBAL ID：200903046829232150
変位計測装置及び変位計測システム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
伊藤 儀一郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-004556
公開番号（公開出願番号）：特開2007-114176
出願日： 2006年01月12日
公開日（公表日）： 2007年05月10日
要約：
【課題】 本発明は、いわゆるFBG方式(ファイバグレーティング方式)の光ファイバセンサのみで、例えば地盤内任意点の3次元変位を精度良く計測でき、しかもそのコストを安価にして構成できる変位計測装置および変位計測システムを提供することを目的とするものである。【解決手段】 本発明は、柔軟性を有する棒状計測基体と、棒状計測基体の外周面上で、棒状計測基体の軸方向略対称となる2箇所位置に設置された一組の第1ファイバグレーティング部と、第1ファイバグレーティング部の設置位置より棒状計測基体の軸回りへ回転させた位置で、かつ棒状計測基体の軸方向略対称となる2箇所位置に設置された第2ファイバグレーティング部と、第1ファイバグレーティング部と第2ファイバグレーティング部とを連結する光ファイバとを備えて形成された計測部と、光ファイバをファイバグレーティング部の両側で固定する固定具と、を有することを特徴とする。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
柔軟性を有する棒状計測基体と、
前記棒状計測基体の外周面上で、該棒状計測基体の軸方向略対称となる2箇所位置に設置された一組の第1ファイバグレーティング部と、前記第1ファイバグレーティング部の設置位置より棒状計測基体の軸回りへ回転させた位置で、かつ前記棒状計測基体の軸方向略対称となる2箇所位置に設置された第2ファイバグレーティング部と、
前記第1ファイバグレーティング部と第2ファイバグレーティング部とを連結する光ファイバと、を備えて形成された計測部と、
前記光ファイバを前記ファイバグレーティング部の両側で固定する固定具と、
を有することを特徴とする変位計測装置。
IPC (3件)：
G01C 15/00
, G01B 11/00
, E02D 17/20
G01C15/00 104B
, G01B11/00 G
, E02D17/20 106
2D044EA07
, 2F065AA00
, 2F065AA04
, 2F065AA31
, 2F065AA65
, 2F065EE01
, 2F065FF41
, 2F065FF48
, 2F065LL03
, 2F065LL42
, 2F065SS02
, 2F065SS13
出願人引用 (1件)
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地中変位計測システム
公報種別：公開公報
出願番号：特願2003-292171
出願人：清水建設株式会社
審査官引用 (3件)
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