特許
J-GLOBAL ID：200903046911729178
フレームリレーの回線試験装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
若林 忠
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-045736
公開番号（公開出願番号）：特開平8-242291
出願日： 1995年03月06日
公開日（公表日）： 1996年09月17日
要約：
【要約】【目的】 回線試験中であっても、全てのフレームリレー論理チャネルが切断状態にされることのないフレームリレーの回線試験装置を提供する。【構成】 試験用フレーム生成回路1は、自局識別番号を付与した試験用フレームをフレームリレー(FR)論理チャネルを介して他局に送信し、試験用フレームをバッファメモリ回路2に蓄積し、タイマ回路3に時間測定を開始させる。一方、試験用フレーム抽出回路4は、他局からFR論理チャネルを介して送られてきたフレームから自局識別番号を付与した試験用フレームを抽出した場合、それを比較回路5に引き渡す。比較回路は、渡された試験用フレームと、バッファメモリ回路の試験用フレームとの比較を行う。比較回路が一致を検出すると、タイマ回路は、その検出までに測定した時間が所定のタイマ値に該当するか否かを判断し、該当すれば試験に使用した回線は正常であったものと判断する。
請求項（抜粋）：
自局識別番号を付与した試験用フレームをフレームリレー論理チャネルを介して、他局に送信する試験用フレーム生成回路と、前記試験用フレーム生成回路が送出する前記試験用フレームを蓄積するバッファメモリ回路と、他局からフレームリレー論理チャネルを介して送られてきたフレームから試験用フレームを抽出し、抽出した試験用フレームに他局識別番号が付与されていた場合には、抽出した試験用フレームを該当する他局に、フレームリレー論理チャネルを介してそのまま折り返す試験用フレーム抽出回路と、前記試験用フレーム抽出回路が他局識別番号が付与されていない試験用フレームを抽出した場合には、その試験用フレームを受け取り、前記バッファメモリ回路に蓄積されている試験用フレームとの比較を行い、一致しているか否かを判断する比較回路と、前記試験用フレーム生成回路が前記試験用フレームを他局に送信すると、時間測定を開始し、前記比較回路が一致を検出した場合には、一致を検出するまでに測定した時間が予め定められたタイマ値に該当するか否かを判断するタイマ回路とを有する、フレームリレーの回線試験装置。
IPC (4件)：
H04M 3/30
, H04L 1/08
, H04L 29/14
, H04Q 1/20
H04M 3/30
, H04L 1/08
, H04Q 1/20
, H04L 13/00 315 A
