特許
J-GLOBAL ID：200903046971415024
ICP-OES及びICP-MS誘導電流
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
河宮 治
, 石野 正弘
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-508319
公開番号（公開出願番号）：特表2006-516325
出願日： 2003年12月11日
公開日（公表日）： 2006年06月29日
要約：
サンプルを分光法で分析する方法においては、プラズマが生成される。磁気双極子によって磁場が生成され、ここでプラズマは磁場内に閉じ込められる。サンプル原子がプラズマ内に導入され、サンプルの励起された原子がプラズマ内に閉じ込められる。励起されたサンプル原子の質量体電荷比又はスペクトル成分が分析される。分光分析システムにおいては、磁気双極子は関連した磁場をもつ。プラズマは磁場内に閉じ込められ、励起された原子のサンプルがプラズマ中に導入される。分光計は、質量対電荷比を得るために、又はそれらのスペクトル成分を得るために、励起された原子を分析する。
請求項（抜粋）：
材料サンプルを分光法で分析する方法であって、
プラズマを生成することと、
ループ電流を生成して磁場を生成し、該磁場中にプラズマを閉じ込めることと、
材料サンプルの原子をプラズマ中に導入し、励起されたサンプルの原子をプラズマ中に閉じ込めることと、
励起されたサンプルの原子の特性を分析することとを含む方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (11件)：
2G041CA01
, 2G041DA14
, 2G041GA03
, 2G043AA01
, 2G043CA03
, 2G043EA08
, 2G043GA06
, 2G043GA11
, 2G043GB10
, 2G043GB13
, 2G043JA01
