特許
J-GLOBAL ID：200903046995953744
適応型テスト実施方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
原田 一男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-022644
公開番号（公開出願番号）：特開2002-229435
出願日： 2001年01月31日
公開日（公表日）： 2002年08月14日
要約：
【要約】【課題】解答者の実力を評価するための適応型テストにおいて、適正な実力評価の阻害要因たる制限時間に対するプレッシャーを軽減する。【解決手段】通常適応型テストでは各問題の制限時間は固定であるが、本発明では、解答者が問題に対する解答に要した時間が当該問題の制限時間より短い場合には、当該制限時間とその解答に要した時間との差を当該問題の次の問題に設定されている制限時間に加えて使用できるようにする。これにより例えば簡単な問題で早く解けた場合には、その余った時間を難しい問題に振り向けることができる。また、第1問目の問題に設定されている制限時間に所定時間を追加し、制限時間と解答に要した時間との差が所定時間に達したか判断し、もし達している場合には制限時間と解答時間に要した時間との差から所定時間を差し引いて、調整する。これにより解答者は1問目から時間に余裕をもって臨むことができるようになる。
請求項（抜粋）：
適応型テストをコンピュータにて実施する適応型テスト実施方法であって、解答者に問題に対して解答するように促す出題ステップと、前記解答者による前記問題に対する解答の入力を取得して、記憶装置に格納するステップと、前記解答者が前記問題に対する解答に要した時間が当該問題の制限時間より短い場合には、当該制限時間と前記解答に要した時間との差を当該問題の次の問題に設定されている制限時間に加えて使用できるように記憶装置に設定を行う制限時間設定ステップと、を含む適応型テスト実施方法。
引用特許：
引用文献：
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