特許
J-GLOBAL ID:200903047252583175
電気化学的な測定プローブおよび、該電気化学的な測定プローブを製造するための方法
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
矢野 敏雄 (外4名)
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-556309
公開番号(公開出願番号):特表2003-521709
出願日: 2001年01月27日
公開日(公表日): 2003年07月15日
要約:
【要約】本発明はセンサ部材(10)を用いて測定ガスのガス濃度を測定するための電気化学的な測定プローブに関する。このセンサ部材(10)は第1の固体電解質層(30)と、電極面(32)および電極リード線(33)とから成る電極(34)と、第2の固体電解質層(40)とを有している。第1の固体電解質層(30)にはガス通路(31)は、第1の固体電解質層と第2の固体電解質層との間に挟持されている第1の領域(50)と、第2の固体電解質層(40)とガス室(31)との間の開放された第2の領域(51)とに電極(34)が配置されているように設けられている。電極(34)は、挟持されている領域(50)と開放されている領域(51)との間の移行領域(52)において層構造体に隣接するように構成されており、該層構造体は、電極(34)がラミネートプロセス時に比較的僅かな圧力にさらされるように構成されている。
請求項(抜粋):
センサ部材を用いてガス混合気内のガスコンポーネントおよび/またはガス濃度を測定するための電気化学的な測定プローブであって、前記センサ部材が第1の固体電解質層と、電極面および電極リード線から成る電極と、第2の固体電解質層とを有しており、前記第1の固体電解質層にガス通路が設けられており、その結果、第1の固体電解質層と第2の固体電解質層との間に挟持されている第1の領域と、第2の固体電解質層とガス室との間の開放された第2の領域とに電極が配置されている形式のものにおいて、 電極(34)が、前記挟持されている領域(50)と前記開放されている領域(51)との間の移行領域(52)において層構造体に隣接するように構成されており、該層構造体が、ラミネートプロセス時に電極(34)が比較的僅かな圧力にさらされるように構成されていることを特徴とする、電気化学的な測定プローブ。
Fターム (6件):
2G004BB04
, 2G004BD05
, 2G004BE04
, 2G004BF02
, 2G004BJ03
, 2G004BM07
引用特許:
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