特許

J-GLOBAL ID：200903047714223757

マルチビーム走査光学系及びそれを用いたマルチビーム走査装置

発明者： 松岡 和彦
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (1件)： 高梨 幸雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-245267
公開番号（公開出願番号）：特開2001-066527
出願日： 1999年08月31日
公開日（公表日）： 2001年03月16日
要約：

【要約】【課題】 被走査面上での光量の均一性を損なうことなく高速に、且つ低消費電力で走査を行うことができるマルチビーム走査光学系及びそれを用いたマルチビーム走査装置を得ること。【解決手段】 複数の光源と、該複数の光源から各々出射された光束を略同一方向に向けて進行させる光学素子4と、該光学素子を通過した複数の光束を偏向する光偏向器25と、該光偏向器で偏向された複数の光束を被走査面30上に結像させる結像光学系20と、有するマルチビーム走査光学系において、該光学素子から該光偏向器へ入射する複数の光束は、副走査断面内においては該光偏向器の偏向面の面法線に対して所定の角度を持って該偏向面に入射し、主走査断面内においては、該光偏向器の偏向角の中央、もしくは略中央から該偏向面に入射すること。

請求項（抜粋）：

複数の光源と、該複数の光源から各々出射された光束を略同一方向に向けて進行させる光学素子と、該光学素子を通過した複数の光束を偏向する光偏向器と、該光偏向器で偏向された複数の光束を被走査面上に結像させる結像光学系と、有するマルチビーム走査光学系において、該光学素子から該光偏向器へ入射する複数の光束は、副走査断面内においては該光偏向器の偏向面の面法線に対して所定の角度を持って該偏向面に入射し、主走査断面内においては、該光偏向器の偏向角の中央、もしくは略中央から該偏向面に入射することを特徴とするマルチビーム走査光学系。

IPC (3件)：

G02B 26/10 ,  B41J 2/44 ,  H04N 1/113

FI (3件)：

G02B 26/10 B ,  B41J 3/00 D ,  H04N 1/04 104 A

Fターム (21件)：

2C362AA49 ,  2C362BA06 ,  2C362BA58 ,  2C362BA86 ,  2C362BA87 ,  2H045AA06 ,  2H045BA22 ,  2H045BA33 ,  2H045CB35 ,  2H045DA02 ,  2H045DA04 ,  5C072AA03 ,  5C072BA06 ,  5C072BA15 ,  5C072CA06 ,  5C072CA15 ,  5C072DA02 ,  5C072DA04 ,  5C072HA06 ,  5C072HA08 ,  5C072HA13

引用特許：

審査官引用 (3件)

• マルチビーム走査光学装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-354129   出願人：キヤノン株式会社
• 光学走査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-019496   出願人：富士ゼロックス株式会社
• 画像記録装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-094251   出願人：富士写真フイルム株式会社