特許

J-GLOBAL ID：200903047780759161

電子回路の配線故障検査法とその検査容易化回路

発明者： 橋爪 正樹 ,  一宮 正博 ,  四柳 浩之
出願人/特許権者： 国立大学法人徳島大学
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-309430
公開番号（公開出願番号）：特開2008-122338
出願日： 2006年11月15日
公開日（公表日）： 2008年05月29日
要約：

【課題】本発明はIC、回路モジュール間の配線をより容易に検査できる電子回路の検査法と検査容易化回路を提供することを目的とする。【解決手段】本発明での検査容易化回路はIC、回路ブロックを組み合わせて作製する電子回路でIC間、回路ブロック間の配線の検査を容易とするものである。その検査容易化回路は検査時にその配線に静的電流を流すことができるようにするもので、その配線に流した電流に現れる異常で配線を検査しようとするものである。その検査容易化回路を回路に組み込むことで、従来では発見が困難な配線故障の発見が確実に行えるようになるし、故障発生箇所の特定も行えるという特長を持っている。【選択図】図4

請求項（抜粋）：

ICを組み合わせて作製する電子回路に発生する配線故障の存在の発見、故障発生箇所の特定、発生故障の種類の特定をする検査法とその検査を容易とする検査容易化回路。

IPC (3件)：

G01R 31/28 ,  H01L 21/822 ,  H01L 27/04

FI (2件)：

G01R31/28 G ,  H01L27/04 T

Fターム (23件)：

2G132AA14 ,  2G132AA15 ,  2G132AA20 ,  2G132AC15 ,  2G132AD01 ,  2G132AD15 ,  2G132AK22 ,  2G132AL09 ,  2G132AL12 ,  5F038BE09 ,  5F038BH02 ,  5F038BH04 ,  5F038BH13 ,  5F038CA10 ,  5F038DF01 ,  5F038DF12 ,  5F038DT02 ,  5F038DT04 ,  5F038DT06 ,  5F038DT12 ,  5F038DT16 ,  5F038EZ07 ,  5F038EZ20

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 電子回路の試験方法及び試験装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-249110   出願人：富士通株式会社

審査官引用 (5件)

• マルチチップモジュール
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2003-182022   出願人：株式会社ルネサステクノロジ
• ショート検出端子付き半導体集積回路、実装基板、及びショート検出方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-026265   出願人：株式会社日立製作所, 日立コンピュータエンジニアリング株式会社
• ICモジュール
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-107524   出願人：カシオ計算機株式会社
• 電子回路の試験方法及び試験装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-249110   出願人：富士通株式会社
• IC接続試験方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-347501   出願人：日本電気エンジニアリング株式会社