特許

J-GLOBAL ID：200903047931281986

分光分析装置

発明者： 福田 敏隆 ,  中西 豊
出願人/特許権者： 財団法人雑賀技術研究所
代理人 (1件)： 竹田 明弘
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-062022
公開番号（公開出願番号）：特開平8-233732
出願日： 1995年02月23日
公開日（公表日）： 1996年09月13日
要約：

【要約】【目的】 暗室内での迷光による悪影響や、センサ面への結露を防止すると共に、センサのピント合わせが簡単な分光分析装置を提供する。【構成】 全体装置は投光部1と受光部2とからなる。受光部2は集光用レンズ4と、スリット7と、リファレンス用NDフィルタ9と、回折格子14とリニアイメージセンサ15とを有する。フィルタ9はスリット7の前面に位置し、開放自在である。スリット7はボディ8に組込まれていて、ボディ8の背面にはケース12で囲われた暗室13がある。暗室13内には回折格子14と、センサ15と、乾燥剤18とが入っている。センサ15は、センサ支持体16に固定され、暗室13の外から位置調節できる。

請求項（抜粋）：

集光用レンズと、スリットと、分光用回折格子と、分光検出用リニアイメージセンサと、暗室とからなり、スリットは暗室と外部との境界に取付けられ、スリットの入射側前方位置には開放自在なリファレンス用NDフィルタが設けられ、また、回折格子は暗室内に設置され、リニアイメージセンサは暗室内に位置し、かつ、暗室外から位置微調節できるように設けられている分光分析装置。

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 分光分析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-166562   出願人：株式会社クボタ
• 分光分析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-268234   出願人：株式会社島津製作所
• アレイ型受光素子の位置決め方法と分光分析計
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-229542   出願人：株式会社クボタ
• 特開昭60-040927