測距装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：中村稔
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-265128
公開番号（公開出願番号）：特開平11-083474
出願日： 1997年09月12日
公開日（公表日）： 1999年03月26日
要約：

【要約】【課題】測距時間が無用に長引いてしまうことを防ぐと共に、より短時間で正確な測距情報を得るようにする。【解決手段】測距対象物へ向けて光を投射し、該投射光の前記測距対象物での反射光を受光することにより、測距対象物までの距離を算出するアクティブ方式の測距手段と、外光成分による測距対象物の受光像に基づいて、測距対象物までの距離を算出するパッシブ方式の測距手段とを有する測距装置において、光学機器の使用条件に応じて、前記アクティブ方式の測距手段とパッシブ方式の測距手段の駆動を制御する制御手段(#110→#111又は#110→#112→#113)を有している。

請求項（抜粋）：

測距対象物へ向けて光を投射し、該投射光の前記測距対象物での反射光を受光することにより、測距対象物までの距離を算出するアクティブ方式の測距手段と、外界の光により、測距対象物までの距離を算出するパッシブ方式の測距手段とを有する測距装置において、光学機器の使用条件に応じて、前記アクティブ方式の測距手段とパッシブ方式の測距手段の駆動を制御する制御手段を有したことを特徴とする測距装置。

IPC (5件)：

G01C 3/06 , G02B 7/30 , G02B 7/32 , G03B 13/36 , G03B 7/28

FI (6件)：

G01C 3/06 A , G01C 3/06 V , G03B 7/28 , G02B 7/11 A , G02B 7/11 B , G03B 3/00 A

引用特許：

審査官引用 (8件)

特開平3-212632
測距装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平8-032502 出願人：キヤノン株式会社
特開昭60-068370

全件表示

前のページに戻る