特許
J-GLOBAL ID:200903048682509404

試験光反射フィルタの有無判定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 三好 秀和 (外4名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-319728
公開番号(公開出願番号):特開2002-131178
出願日: 2000年10月19日
公開日(公表日): 2002年05月09日
要約:
【要約】【課題】 光線路の遠端に試験光反射フィルタが設置されているか否かを判定できるようにする。【解決手段】 多波長光源13により試験光反射フィルタ28の低反射率帯にある試験波長λ1および高反射率帯にある試験波長λ2による試験光11を発生させ、この各試験波長による試験光11を光ファイバ23に伝送したときの各反射光の強度をマルチメータ17で測定する。試験光反射フィルタ28がある場合には試験波長λ2の反射光の方が試験波長λ1の反射光よりも強度が大きくなり、試験光反射フィルタがない場合には試験波長λ2の反射光も試験波長λ1の反射光も強度はほとんど変わらないので、判定回路18で各試験波長による反射光強度の大小関係に基づいて試験光反射フィルタの有無を判定する。
請求項(抜粋):
光線路において遠端に波長依存型の試験光反射フィルタが設置されているか否かを判定する試験光反射フィルタの有無判定装置であって、試験光反射フィルタの低反射率帯にある第1の試験波長および高反射率帯にある第2の試験波長による試験光を発生させる多波長発生手段と、これらの各試験波長による試験光を光線路に伝送したときの各試験波長の反射光の強度を測定する測定手段と、測定された各反射光の強度の大小関係に基づいて試験光反射フィルタの有無を判定する判定手段と、を有することを特徴とする試験光反射フィルタの有無判定装置。
IPC (3件):
G01M 11/00 ,  H04B 10/08 ,  H04B 17/00
FI (3件):
G01M 11/00 R ,  H04B 17/00 T ,  H04B 9/00 K
Fターム (15件):
2G086CC03 ,  5K002AA05 ,  5K002BA21 ,  5K002EA06 ,  5K002FA01 ,  5K042AA03 ,  5K042CA10 ,  5K042CA12 ,  5K042DA16 ,  5K042FA06 ,  5K042FA21 ,  5K042FA25 ,  5K042GA01 ,  5K042JA01 ,  5K042LA11
引用特許:
審査官引用 (3件)

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