特許
J-GLOBAL ID:200903048889229770
プローブ針およびその製造方法
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
田澤 博昭 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平9-109907
公開番号(公開出願番号):特開平10-300779
出願日: 1997年04月25日
公開日(公表日): 1998年11月13日
要約:
【要約】【課題】 ウエハテスト時の接触抵抗が安定せず、テスト結果が不安定であるという課題があった。また、最悪の場合には、LSIに電源や電気信号が印加されなくなり、良品が不良品と判定され、LSIの歩留まりが低下するという課題があった。さらに、プローブ針の寿命が短く、ウエハテスト時のコストが高いという課題があった。【解決手段】 先端部12を単結晶化するものである。
請求項(抜粋):
先端から所定の距離で屈曲している形状のプローブ針において、先端部を単結晶化したことを特徴とするプローブ針。
IPC (2件):
FI (2件):
G01R 1/067 G
, H01L 21/66 B
引用特許:
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