特許
J-GLOBAL ID:200903049276753791

物品のレイアウト支援システム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 今岡 憲
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-259947
公開番号(公開出願番号):特開2007-072816
出願日: 2005年09月07日
公開日(公表日): 2007年03月22日
要約:
【課題】同型・同寸のものが混在した多数の物品の3次元情報を正確にとり、効率的にレイアウトを行うことができる、領域レイアウトの支援システムを提供する。【解決手段】被計測物品Oのステレオ画像を解析して、その物品の外形のうち平面図に表れる複数の代表点Aの3次元座標を算出することができるステレオ画像解析ユニット4と、被計測物品Oと照合すべき複数の既知の物品群の寸法などの外観情報を記憶した記憶ユニット6と、各被計測物品O毎に、上記代表点の3次元座標からその被計測物品の寸法などの外観情報を算出して、この外観情報を上記記憶ユニット6に記憶した物品群の外観情報と照合させ、被計測物品Oと外観情報が合致する物品があった場合に、その被計測物品の代表点の3次元座標に応じた平面図を含むレイアウト図面を作成するように設けた作図ユニット8と、レイアウト図面を表示することができる画像表示ユニット16とを具備する。【選択図】 図2
請求項(抜粋):
計測領域に配置された一定の平面図形状を有する各種物品のレイアウトの作成・変更を支援するシステムであって、 被計測物品Oのステレオ画像を解析して、その物品の外形のうち平面図に表れる複数の代表点Aの3次元座標を算出することができるステレオ画像解析ユニット4と、 被計測物品Oと照合すべき複数の既知の物品群の寸法などの外観情報を記憶した記憶ユニット6と、 各被計測物品O毎に、上記代表点の3次元座標からその被計測物品の寸法などの外観情報を算出して、この外観情報を上記記憶ユニット6に記憶した物品群の外観情報と照合させ、被計測物品Oと外観情報が合致する物品があった場合に、その被計測物品の代表点の3次元座標に応じた平面図を含むレイアウト図面を作成するように設けた作図ユニット8と、 少なくとも上記レイアウト図面を表示することができる画像表示ユニット16と、 を具備することを特徴する物品のレイアウト支援システム。
IPC (4件):
G06F 17/50 ,  G06T 17/40 ,  G06T 7/00 ,  G06T 1/00
FI (5件):
G06F17/50 634C ,  G06T17/40 A ,  G06T7/00 300F ,  G06T1/00 315 ,  G06F17/50 680B
Fターム (21件):
5B046AA03 ,  5B046BA04 ,  5B046HA03 ,  5B050BA13 ,  5B050DA07 ,  5B050EA05 ,  5B050EA07 ,  5B050EA26 ,  5B057AA20 ,  5B057BA02 ,  5B057BA29 ,  5B057DA20 ,  5B057DB03 ,  5B057DC16 ,  5B057DC30 ,  5B057DC32 ,  5L096AA09 ,  5L096CA05 ,  5L096FA02 ,  5L096FA64 ,  5L096JA11
引用特許:
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (4件)
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