特許
J-GLOBAL ID：200903072668655358
写真測量における計測点の対応付け方法及び装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
青山 葆
, 河宮 治
, 伊藤 晃
, 中塚 雅也
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-022134
公開番号（公開出願番号）：特開2004-233198
出願日： 2003年01月30日
公開日（公表日）： 2004年08月19日
要約：
【課題】写真測量における計測点の対応付けにおいて、相関処理の負担を小さくして、より高速かつ高精度に対応付けを行う。【解決手段】計測点21が存在するほぼ平面として近似できる略平面20、120上に基準点22〜29を指定することにより、当該略平面20又は当該略平面20に近似する仮想平面120xの関係式を導き、当該平面20又は仮想平面120xと基準画像110上の計測点21及び基準カメラの光軸中心100aとを通る光線L1,L2との交点21、21xを求める。交点21は検査画像210上に投影されて、その点を対応点21bとして決定する。又は、交点21xを中心として設定領域41を設定し、それが検査画像に投影された区分領域41bをパターンマッチングし、対応点を決定する。【選択図】 図9
請求項（抜粋）：
互いの位置関係が既知の基準カメラ及び前記基準カメラと異なる位置に配置された検査カメラによってそれぞれ撮影された基準画像及び検査画像を作成し、前記基準画像上において略平面上に配置された基準点を複数指定し、前記基準点の位置に基づいて前記略平面の関係式を算出し、前記基準画像上の前記略平面内に計測点を指定し、前記基準カメラの光軸中心と前記計測点とを通過する直線が前記略平面と交差する交点の三次元座標を算出し、前記交点に基づいて前記検査画像上の計測点の対応点を決定することを特徴とする、写真測量における計測点の対応付け方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
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