特許
J-GLOBAL ID：200903049525472285
散乱式粒度分布測定装置における光軸調整方法
出願人/特許権者：
株式会社堀場製作所
株式会社堀場製作所 について
代理人 (1件)： 藤本 英夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-021932
公開番号（公開出願番号）：特開平9-189653
出願日： 1996年01月11日
公開日（公表日）： 1997年07月22日
要約：
【要約】【課題】 光検出器の光軸中心部に十分近接して散乱光受光素子を設けても光軸合わせを確実行うことができる散乱式粒度分布測定装置における光軸調整方法を提供すること。【解決手段】 光源1と光検出器16とを結ぶ光軸上に回折光発生手段15を設け、この回折光発生手段15によって発生する回折光を用いて光軸調整を行うようにした。
請求項（抜粋）：
光源と光検出器とを結ぶ光軸上に回折光発生手段を設け、この回折光発生手段によって発生する回折光を用いて光軸調整を行うようにしたことを特徴とする散乱式粒度分布測定装置における光軸調整方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
引用特許：
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