特許
J-GLOBAL ID：200903049576248690
3次元形状計測方法及びこれを用いた3次元形状計測装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-146579
公開番号（公開出願番号）：特開2007-315946
出願日： 2006年05月26日
公開日（公表日）： 2007年12月06日
要約：
【課題】 計測対象物の表面にある物が、クラックのような凹部分であるか、バリのような小片突起物が計測対象物の表面に付着しているかを判断できる位相シフト法を提供する。【解決手段】 縞パターンの光を計測対象物に投影し、縞パターンの投影方向と異なる方向から計測対象物を撮像した撮像画像を得る過程を、縞パターンの位相を一定間隔でずらしながら複数回実行し、撮像画像を複数の撮像装置によって撮像画像を撮像することにより、前記複数回の過程で得られた複数枚の撮像画像における同一点での明度変化に基づいて縞パターンの位相値を演算するとともに位相値から撮像画像上の各点における高さ情報を得る3次元形状計測方法において、単独の撮像装置によって撮像された撮像画像からのデータのみでは高さ情報を得ることできない範囲について、複数の撮像装置によって撮像される撮像画像からのデータを比較することにより、高さ情報を得る。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
光の明度が正弦波状に変化する縞パターンを計測対象物に投影し、縞パターンの投影方向と異なる方向から計測対象物を撮像した撮像画像を得る過程を、縞パターンの位相を一定間隔でずらしながら複数回実行し、撮像画像を複数の撮像装置によって撮像画像を撮像することにより、前記複数回の過程で得られた複数枚の撮像画像における同一点での明度変化に基づいて縞パターンの位相値を演算するとともに該位相値から撮像画像上の各点における高さ情報を得ることで計測対象物の3次元形状を計測する3次元形状計測方法において、
単独の撮像装置によって撮像された撮像画像からのデータのみでは高さ情報を得ることできない範囲について、複数の撮像装置によって撮像される撮像画像の撮像データを比較することにより、高さ情報を得ることを特徴とする3次元形状計測方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (10件)：
2F065AA24
, 2F065AA49
, 2F065AA53
, 2F065FF06
, 2F065HH06
, 2F065JJ03
, 2F065LL41
, 2F065QQ00
, 2F065RR05
, 2F065RR08
出願人引用 (2件)
審査官引用 (9件)
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