測定装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-366452
公開番号（公開出願番号）：特開2000-187087
出願日： 1998年12月24日
公開日（公表日）： 2000年07月04日
要約：

【要約】【課題】長いデータ観測において、統計値の変化を解析できる測定装置を実現することを目的にする。【解決手段】本発明は、入力信号を入力し、入力信号の時間測定を行う時間測定部と、ブロック数と、ブロックのサンプル数またはサンプル時間と、ブロック間隔の休止時間または休止イベント数とを設定するブロック設定部と、このブロック設定部の設定に基づいて、時間測定部の時間測定データを格納するメモリと、このメモリから時間測定データを入力し、ブロック毎の統計演算を行う統計値演算部と、この統計演算部の演算結果を表示する表示部とを有することを特徴とするものである。

請求項（抜粋）：

入力信号を入力し、入力信号の時間測定を行う時間測定部と、ブロック数と、ブロックのサンプル数またはサンプル時間と、ブロック間隔の休止時間または休止イベント数とを設定するブロック設定部と、このブロック設定部の設定に基づいて、前記時間測定部の時間測定データを格納するメモリと、このメモリから時間測定データを入力し、ブロック毎の統計演算を行う統計値演算部と、この統計演算部の演算結果を表示する表示部とを有することを特徴とする測定装置。

IPC (4件)：

G04F 10/00 , G01D 21/00 , G01R 13/20 , G01R 29/02

FI (6件)：

G04F 10/00 Z , G01D 21/00 M , G01R 13/20 S , G01R 29/02 J , G01R 29/02 D , G01R 29/02 L

Fターム (15件)：

2F076BA01 , 2F076BA11 , 2F076BE04 , 2F076BE08 , 2F076BE11 , 2F085AA00 , 2F085BB04 , 2F085CC10 , 2F085DD01 , 2F085EE08 , 2F085EE09 , 2F085FF17 , 2F085GG11 , 2F085GG24 , 2F085GG25

引用特許：

審査官引用 (5件)

測定データ記憶装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-289161 出願人：横河電機株式会社
信号特性表示方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-269315 出願人：ソニー・テクトロニクス株式会社
時間計測装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平6-096409 出願人：横河電機株式会社

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