特許
J-GLOBAL ID：200903049982883037
エンボステープのカバーテープ検査方法
発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-106392
公開番号（公開出願番号）：特開平9-236487
出願日： 1996年02月29日
公開日（公表日）： 1997年09月09日
要約：
【要約】【課題】 本発明は従来の良否判定の閾値の設定難やノイズ等の問題点を解消し、エンボステープのカバーテープ検査を容易にかつ短時間に行う。【解決手段】 光源5をエンボステープ内に封入された表面実装部品に光があたらず、光源5の照射光がカバーテープ2で反射し、かつカバーテープ2平面上の凹凸における明暗のコントラストが強まるよう、カバーテープ平面の側方または斜め上方に配置し、エンボステープの画像をカバーテープ平面に対向配置したカメラ4でとらえ、認識した画像から画像処理装置7にて明度のヒストグラムを作成し、その分布から閾値を決定し、閾値で区切られるヒストグラムの領域をそれぞれ異なるひとつの階調に変換した処理画像を形成し、処理画像の各構成部に近傍と異なる階調の画素が存在しないかを調べる。
請求項（抜粋）：
シール済みのエンボステープに光源の光を照射する工程と、該エンボステープの画像を順次カメラでとらえる工程と、該カメラで認識した画像を画像処理装置にて各画素を多階調の明度で記録し、明度と画素数のヒストグラムを作成し、該ヒストグラムの分布から各構成部分に対応する明度に区切る閾値を決定し、前記画像の各構成部分が欠陥部を除きひとつの階調の明度で表されるように前記ヒストグラムの前記閾値で区切られる領域をそれぞれ異なるひとつの階調の明度に変換した処理画像を形成し、該処理画像の各構成部分において該構成部分に対応した階調の明度と異なる階調の明度の画素が存在しないかを調べる工程とを有するエンボステープのカバーテープ検査方法であって、前記光源はエンボステープ内に封入された表面実装部品に光があたらず、該光源の光がカバーテープで反射し、かつカバーテープ平面上の凹凸における明暗のコントラストが強まる様、カバーテープ平面の側方または斜め上方に配置し、前記カメラは前記カバーテープ平面に対向配置していることを特徴とするエンボステープのカバーテープ検査方法。
IPC (5件)：
G01J 1/04
, B65B 57/00
, G01N 21/89
, G06T 7/00
, H05K 3/28
G01J 1/04 H
, B65B 57/00 A
, G01N 21/89 Z
, H05K 3/28 Z
, G06F 15/62 400
