光走査装置

発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-284528
公開番号（公開出願番号）：特開2004-118122
出願日： 2002年09月27日
公開日（公表日）： 2004年04月15日
要約：

【課題】低コストかつ簡便な機構により、装置内の温度上昇等の環境変動に伴うfθレンズの温度勾配を抑制することで像高間での光学特性を均一にする光走査装置を提供する。【解決手段】レーザ光を出射する少なくとも1つの半導体レーザ光源2と、前記レーザ光を反射して偏向するポリゴンスキャナユニット4と、このポリゴンスキャナユニット4により偏向されたレーザ光を感光体6上で等速度となるよう補正する少なくとも1つのプラスチックからなるfθレンズ5と、前記半導体レーザ光源2と前記ポリゴンスキャナユニット4と前記fθレンズ5を固定する筐体1とを有する光走査装置において、前記ポリゴンスキャナユニット4と前記fθレンズ5の中間に熱伝達量補正手段7を設けた。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

レーザ光を出射する少なくとも1つの半導体レーザ光源と、前記レーザ光を反射して偏向するポリゴンスキャナユニットと、このポリゴンスキャナユニットにより偏向されたレーザ光を感光体上で等速度となるよう補正する少なくとも1つのプラスチックからなるfθレンズと、前記半導体レーザ光源と前記ポリゴンスキャナユニットと前記fθレンズを固定する筐体とを有する光走査装置において、前記ポリゴンスキャナユニットと前記fθレンズの中間に熱伝達量補正手段を設けたことを特徴とする光走査装置。

IPC (1件)：

G02B26/10

FI (3件)：

G02B26/10 E , G02B26/10 F , G02B26/10 102

Fターム (3件)：

2H045AA01 , 2H045CA63 , 2H045DA02

引用特許：

審査官引用 (5件)

レーザ書込み装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2000-081042 出願人：株式会社リコー
レーザー露光装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平10-051903 出願人：コニカ株式会社
偏向走査装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平10-076861 出願人：株式会社リコー

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