特許
J-GLOBAL ID：200903050030044838
フラットパネル表示器検査用画像取得方法、フラットパネル表示器検査用画像取得装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
草野 卓 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-155675
公開番号（公開出願番号）：特開平11-352011
出願日： 1998年06月04日
公開日（公表日）： 1999年12月24日
要約：
【要約】【課題】 フラットパネル表示器の画素欠陥を検出する画質検査装置において、画質検査に供する画像データからモアレ成分を除去する。【解決手段】 撮像装置で得られる画像データからモアレ成分を抽出し、このモアレ成分の周期を検出して周期毎に配置される画素値を結んで欠陥成分を除去した複数の平滑曲線を求め、この複数の平滑曲線上に位置する画素値と、元の画像データとの差を求めて欠陥画像データを取得し、複数の平滑曲線の平均を求めてモアレを含まない平滑画像データを取得し、この平滑画像データと欠陥画像データとを加算し、この加算結果を検査用画像データとして画像メモリに格納する。
請求項（抜粋）：
検査すべきフラットパネル表示器に検査用画像を表示させ、この検査用画像を固体撮像素子を具備したカメラ部によって撮像し、その撮像信号をAD変換して上記固体撮像素子の画素サイズに対応した画素値を持つ撮像画素データに変換すると共に、この撮像画素データをプリサンプリング処理により上記フラットパネル表示器の画素サイズに対応した画素値を持つ表示画素データに変換し、この表示画素データを上記フラットパネル表示器検査用画像信号として画像メモリに格納するフラットパネル表示器検査用画像取得方法において、上記画像メモリに格納した上記表示画素データに発生するX軸方向とY軸方向の何れか一方のモアレの周期を検出し、このモアレの発生周期に対応する上記表示画素数の周期に対応した間隔で収集したデータ列をモアレの周期に含まれる表示画素数に従って複数取得し、各データ列の画素値を平滑化して欠陥成分を除去したモアレ成分画像データを取得する工程と、このモアレ成分画像データと上記表示画素データとの差を求めて欠陥成分を抽出し、欠陥画像データを求める工程と、この欠陥画像データを欠陥画像メモリに格納する工程と、上記各モアレ成分画像データの各データ列の画素値を持たない画素に補間により画素値を与え、上記モアレ成分画像データ列の相互の平均値を求めてモアレを除去した平滑画像データを算出する工程と、この平滑画像データを平滑画像メモリに格納する工程とを含み、これら欠陥画像メモリに格納した欠陥画像データ及び平滑画像メモリに格納した平滑画像データを検査用画像データとして保持することを特徴とするフラットパネル表示器検査用画像取得方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01M 11/00 T
, G01N 21/88 Z
