特許
J-GLOBAL ID：200903050118085224
2次元多階調画像におけるパタン検出方法及び装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
笹島 富二雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-057777
公開番号（公開出願番号）：特開平9-251535
出願日： 1996年03月14日
公開日（公表日）： 1997年09月22日
要約：
【要約】【課題】乳房X線画像から、乳癌の重要所見である微小石灰化像を、線成分陰影と区別して精度良く検出する。【解決手段】候補領域の画素を中心とし、周辺に放射状に広がる探索方向を複数設定し、それぞれの探索方向において、各画素における濃度勾配のベクトル強度が極大となる画素を求める。そして、前記ベクトル強度が極大となる各画素におけるベクトル強度、及び、探索方向とベクトル方向との角度の相違に基づいて、微小石灰化像の特徴である放射状のベクトル分布となっているか否かを判別する。
請求項（抜粋）：
2次元の多階調の画像データから所定のパタンを検出する方法であって、任意の画素から周辺画素へ放射状に広がる複数の探索方向それぞれにおいて、濃度勾配のベクトル強度が極大となる画素を探索し、前記探索された複数画素それぞれでの濃度勾配のベクトル強度、及び、前記探索された複数画素それぞれでの濃度勾配のベクトル方向と前記探索方向との角度の相違量から濃度勾配に関する特徴量を求め、該特徴量に基づいて前記任意の画素が所定のパタンに含まれるか否かを判別することを特徴とする2次元多階調画像におけるパタン検出方法。
IPC (3件)：
G06T 7/00
, A61B 6/00
, G06T 1/00
G06F 15/70 460 D
, A61B 6/00 350 Z
, G06F 15/62 390 A
