特許

J-GLOBAL ID：200903050364100607

MALDI質量分析用の試料ホルダおよび質量分析方法

発明者： 米澤 徹 ,  佐藤 王高
出願人/特許権者： 国立大学法人 東京大学 ,  DOWAエレクトロニクス株式会社
代理人 (2件)： 小松 高 ,  和田 憲治
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-169784
公開番号（公開出願番号）：特開2009-009811
出願日： 2007年06月27日
公開日（公表日）： 2009年01月15日
要約：

【課題】無機微粒子をマトリクスとするMALDI質量分析法において、妨害イオンピークの原因となる物質を介在させることなく、試料物質をマトリクス粒子に直接保持させて、特に低分子量の有機化合物が精度良く分析できる質量分析技術を提供する。【解決手段】平均粒子径100nm以下のCuO一次粒子が集合してなる二次粒子であって、最表層を構成する一次粒子の形状に起因した凹凸表面を有するCuO二次粒子を、レーザー光吸収マトリクスとして備えたMALDI質量分析用の試料ホルダを使用する。前記CuO二次粒子は、炭酸水素アンモニウム水溶液と硝酸銅水溶液を混合する工程で生成する塩基性炭酸銅を、200〜300°Cで大気焼成することにより合成されるCuO粉末に由来するものが使用でき、そのCuO二次粒子は例えば平均粒子径が0.3〜10μmである。【選択図】図4

請求項（抜粋）：

平均粒子径100nm以下のCuO一次粒子が集合してなる二次粒子であって、最表層を構成する一次粒子の形状に起因した凹凸表面を有するCuO二次粒子を、レーザー光吸収マトリクスとして備えたMALDI質量分析用の試料ホルダ。

IPC (2件)：

H01J 49/14 ,  G01N 27/62

FI (2件)：

H01J49/14 ,  G01N27/62 F

Fターム (11件)：

2G041CA01 ,  2G041DA04 ,  2G041EA01 ,  2G041FA06 ,  2G041GA06 ,  2G041JA06 ,  2G041JA08 ,  5C038GG07 ,  5C038GG13 ,  5C038GH09 ,  5C038GH17

引用特許：

出願人引用 (3件)

• 特開昭62-43562号公報
  
• ナノ粒子の使用下での改善された質量スペクトル分析
  公報種別：公表公報   出願番号：特願2003-525299   出願人：フラウンホーファーゲゼルシャフトツールフォルデルングデルアンゲヴァンテンフォルシユングエー.フアー.
• 質量分析用イオン化基板及び質量分析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2005-013433   出願人：独立行政法人産業技術総合研究所