特許
J-GLOBAL ID：200903082577441490
質量分析用イオン化基板及び質量分析装置
発明者：
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出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-013433
公開番号（公開出願番号）：特開2006-201042
出願日： 2005年01月21日
公開日（公表日）： 2006年08月03日
要約：
【課題】 レーザー脱離イオン化質量分析用試料基板において、レーザー光を照射されたときに、妨害ピークを発生させることなく、正確な測定ができ、試料作成にあたっては、試料を均一に塗布することができ、かつ測定後の洗浄が容易であるソフトLDI-MS測定のための試料基板およびそれを用いる測定装置の提供。【解決手段】 レーザー脱離イオン化質量分析に用いるレーザー光を吸収するイオン化媒体として、焦電性素子、又は前記焦電性素子が強誘電体素子、又は前記焦電性素子が結晶性の素子、又は前記強誘電体素子が結晶性の素子、又は前記結晶性素子の表面が平滑な特定の単結晶を用いる。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
レーザー光を吸収する結晶性素子から構成されるイオン化媒体であることを特徴とするレーザー脱離イオン化質量分析用試料基板。
IPC (4件)：
G01N 27/64
, G01N 27/62
, H01J 49/10
, G01N 1/28
G01N27/64 B
, G01N27/62 V
, H01J49/10
, G01N1/28 W
2G052AA28
, 2G052AB16
, 2G052DA05
, 2G052DA06
, 2G052GA11
, 2G052GA24
, 5C038GG07
, 5C038GH05
, 5C038GH06
出願人引用 (7件)
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審査官引用 (3件)
引用文献：
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