粒子計数方法

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：野河信太郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-065092
公開番号（公開出願番号）：特開平10-260129
出願日： 1997年03月18日
公開日（公表日）： 1998年09月29日
要約：

【要約】【課題】この発明は、粒子計数方法に関し、誤計数の要因となるバックグラウンドを除いて、測定対象粒子の正確な計数を行うことを課題とする。【解決手段】フローサイトメータを用いて、測定対象粒子を含む試料液をシース液で包んで形成した試料流を光学的に測定して第1粒度分布を作成する第1の測定工程と、前記フローサイトメータを用いて前記シース液のみからなる試料流を形成し、その試料流を光学的に測定して第2粒度分布を作成する第2の測定工程と、第1粒度分布から第2粒度分布を減算することによって、測定対象粒子の粒度分布を求める解析工程とからなることを特徴とする。

請求項（抜粋）：

フローサイトメータを用いて、測定対象粒子を含む試料液をシース液で包んで形成した試料流を光学的に測定して第1粒度分布を作成する第1の測定工程と、前記フローサイトメータを用いて前記シース液のみからなる試料流を形成し、その試料流を光学的に測定して第2粒度分布を作成する第2の測定工程と、第1粒度分布から第2粒度分布を減算することによって、測定対象粒子の粒度分布を求める解析工程とからなることを特徴とする粒子計数方法。

FI (2件)：

G01N 15/14 J , G01N 15/14 C

引用特許：

審査官引用 (5件)

粒度分布測定装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平6-267657 出願人：株式会社島津製作所
微粒子計測方法およびそのための装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-109372 出願人：住友化学工業株式会社
粒子分析装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平6-290907 出願人：株式会社日立製作所

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