特許
J-GLOBAL ID:200903050867437617
三次元測定装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (5件):
八田 幹雄
, 野上 敦
, 奈良 泰男
, 齋藤 悦子
, 宇谷 勝幸
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-251198
公開番号(公開出願番号):特開2004-093190
出願日: 2002年08月29日
公開日(公表日): 2004年03月25日
要約:
【課題】三次元測定するワークの部分的な変形にも対応することのできる三次元測定装置を提供する。【解決手段】2台のカメラ14、15によりワークを撮影し、ラフ形状作成部21が画像データからワークの大まかな三次元形状を作成して、形状比較部23がラフ形状とワーク50の設計形状とを比較してずれ量を求め、このずれ量に基づきワークの設計形状から作成されているプローブの移動経路を修正する。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
プローブをワークに接触させて該ワークの三次元形状を測定する三次元測定装置において、
前記ワークの形状を非接触により測定する光学測定手段と、
前記光学測定手段によって測定されたワーク形状からワークの三次元形状を作成するワーク形状作成手段と、
前記ワーク形状作成手段によって作成された前記ワークの三次元形状に基づいて前記プローブの移動経路を設定する移動経路設定手段と、
前記プローブを前記移動経路にしたがって移動させるプローブ制御手段と、
を有することを特徴とする三次元測定装置。
IPC (3件):
G01B21/20
, G01B11/24
, G01B21/00
FI (3件):
G01B21/20 101
, G01B21/00 E
, G01B11/24 A
Fターム (31件):
2F065AA04
, 2F065AA12
, 2F065AA53
, 2F065FF04
, 2F065FF05
, 2F065FF63
, 2F065JJ05
, 2F065JJ26
, 2F065QQ03
, 2F065QQ08
, 2F065QQ24
, 2F065QQ25
, 2F065QQ31
, 2F065QQ38
, 2F069AA04
, 2F069BB40
, 2F069DD01
, 2F069DD16
, 2F069GG01
, 2F069GG04
, 2F069GG07
, 2F069GG12
, 2F069GG60
, 2F069GG72
, 2F069HH01
, 2F069HH30
, 2F069JJ08
, 2F069JJ28
, 2F069MM24
, 2F069MM32
, 2F069MM38
引用特許:
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