特許
J-GLOBAL ID：200903050906804908
皮膜の密着性評価方法
発明者：
,
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
村瀬 一美
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-226874
公開番号（公開出願番号）：特開平11-064211
出願日： 1997年08月22日
公開日（公表日）： 1999年03月05日
要約：
【要約】【課題】 試験片の形状による制約が少なく、簡便にかつ定量的に皮膜の密着力を測定する。【解決手段】 基材1を皮膜2が形成された面1aの反対側の面1bで尚かつ離れた2箇所4,5で支持する一方、これら両支持箇所4,5の間でかつ皮膜2側の離れた2箇所6,7に曲げ荷重をかけ、皮膜2が内側になるように基材1を湾曲させて皮膜2に圧縮応力を発生させると共に、曲げ荷重Pを徐々に増加させて圧縮応力を徐々に増加させ、当該圧縮応力によって皮膜2が座屈して基材1からはく離した時の曲げ荷重に基づいて密着性を評価するようにしている。
請求項（抜粋）：
基材の表面に形成された皮膜の密着性評価方法において、前記基材を前記皮膜が形成された面の反対側の面で尚かつ離れた2箇所で支持する一方、これら両支持箇所の間でかつ前記皮膜の離れた2箇所に曲げ荷重をかけ、前記皮膜が内側になるように前記基材を湾曲させて前記皮膜に圧縮応力を発生させると共に、前記曲げ荷重を徐々に増加させて前記圧縮応力を徐々に増加させ、当該圧縮応力によって前記皮膜が座屈して前記基材からはく離した時の前記曲げ荷重に基づいて密着性を評価することを特徴とする皮膜の密着性評価方法。
引用特許：
前のページに戻る
