特許
J-GLOBAL ID：200903050914528260
実装装置、検査装置、検査方法及び実装方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
大森 純一
, 折居 章
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-096777
公開番号（公開出願番号）：特開2009-252857
出願日： 2008年04月03日
公開日（公表日）： 2009年10月29日
要約：
【課題】本発明の目的は、高いロバスト性、つまり、回路素子等の個体差、検査条件等の不確定要因に対する安定性を有する塗布剤の塗布状態の検査の技術を提供することにある。【解決手段】ステップ104及び109において、表面実装部品Pに形成された全てのバンプP2それぞれについて取得された塗布剤Fの塗布前及び塗布後の平均輝度値が比較される。実装装置の制御部は、各バンプP2について、ステップ104及び109において取得された平均輝度値を比較し、これらの2値の差や割合を求める。これら2値の差や割合が、ユーザにより設定、あるいは自動的に算出された数値範囲内かどうかが判断され、当該バンプP2の塗布剤Fの塗布量が過少あるいは過多であるかが判定される。【選択図】図6
請求項（抜粋）：
塗布対象部品の塗布対象領域である第1の領域に塗布剤を塗布する塗布ユニットと、
前記塗布ユニットで塗布される前の前記第1の領域の第1の輝度情報及び塗布された後の前記第1の領域の第2の輝度情報を取得する取得手段と、
前記第1の輝度情報及び前記第2の輝度情報を比較することで、前記第1の領域の前記塗布剤の塗布状態の良否を判定する判定手段と、
前記判定手段により前記塗布状態が良と判定された前記塗布対象部品を実装対象物に実装する実装機構と
を具備する実装装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
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