画像を幾何学的に計測するための計測処理装置

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：柳田征史 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-324887
公開番号（公開出願番号）：特開2002-125958
出願日： 2000年10月25日
公開日（公表日）： 2002年05月08日
要約：

【要約】【課題】画像を幾何学的に計測するための計測処理装置において、幾何学情報の自動計測を効率よく行なうことができるようにする。【解決手段】画像表示手段190と、画像表示手段190の表示面上に表示された計測対象画像を幾何学的に計測するための計測点を設定する計測点設定手段140と、計測過去画像に基づいて参照画像を生成するとともにこの計測過去画像上に設定した計測点の設定順序と同じ順序を示すように計測対象画像に対して計測点を設定する際の設定順序を示唆する設定順序情報を生成し、この生成した設定順序情報を参照画像とともに画像表示手段190に表示出力させる参照画像出力手段180とを設ける。画像表示手段190に表示された参照画像や設定順序情報を参照しながら、計測対象画像上の適正位置に適正順序で計測点を設定することができ、画像の幾何学情報の自動計測を効率よく行なうことができる。

請求項（抜粋）：

画像表示手段と、該画像表示手段の表示面上に表示された計測対象画像を幾何学的に計測するための計測点を設定する計測点設定手段と、この設定された計測点の位置情報に基づいて前記計測対象画像を幾何学的に計測する幾何学情報計測手段とを備えた画像を幾何学的に計測するための計測処理装置において、前記計測点を設定するべき位置を示唆し得る参照画像を出力する参照画像出力手段を備えたことを特徴とする計測処理装置。

IPC (4件)：

A61B 6/00 , A61B 6/00 390 , G01B 11/03 , G06T 1/00 290

FI (4件)：

A61B 6/00 390 C , G01B 11/03 H , G06T 1/00 290 A , A61B 6/00 350 A

Fターム (25件)：

2F065AA21 , 2F065AA32 , 2F065AA56 , 2F065CC16 , 2F065EE05 , 2F065FF04 , 2F065FF61 , 2F065JJ03 , 2F065QQ21 , 2F065QQ24 , 2F065QQ35 , 2F065RR09 , 2F065SS13 , 4C093CA15 , 4C093EE30 , 4C093FF21 , 5B057AA08 , 5B057BA03 , 5B057BA24 , 5B057CC03 , 5B057CD05 , 5B057DA07 , 5B057DB02 , 5B057DB09 , 5B057DC02

引用特許：

審査官引用 (4件)

特開平4-221537
画像表示装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平7-210861 出願人：富士通株式会社
特開平4-221537

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