特許
J-GLOBAL ID:200903051362899310
重合体、これを含有する化学増幅型ネガレジスト及びレジストパターン形成方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
西村 征生
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-229154
公開番号(公開出願番号):特開2000-063433
出願日: 1998年08月13日
公開日(公表日): 2000年02月29日
要約:
【要約】【課題】 ArFエキシマレーザ光等を露光光源として、微細なネガ型のレジストパターンを得ることのできる化学増幅型ネガレジストを提供する。【解決手段】 ベース樹脂は、式(18)で表される。光酸発生剤は、ArFエキシマレーザ光露光でプロトン酸を発生する。 【化18】 R1,R3,R5は水素原子、メチル基、アルキル基等、R2,R4は、橋かけ環式炭化水素基を有するアルキレン基、R6は、水素原子又はアルキル基。
請求項(抜粋):
一般式(1)で表され、重量平均分子量が、1,000〜500,000であることを特徴とする重合体。【化1】式(1)において、R1は水素原子又はメチル基、R2は、橋かけ環式炭化水素基を有する炭素数7〜18のアルキレン基を表している。
IPC (7件):
C08F 20/18
, C08F 20/28
, C08F 20/36
, C08L 33/06
, C08L 33/26
, G03F 7/038 601
, H01L 21/027
FI (7件):
C08F 20/18
, C08F 20/28
, C08F 20/36
, C08L 33/06
, C08L 33/26
, G03F 7/038 601
, H01L 21/30 502 R
Fターム (48件):
2H025AA00
, 2H025AA09
, 2H025AB16
, 2H025AC04
, 2H025AC08
, 2H025AD01
, 2H025BD42
, 2H025BE00
, 2H025BE07
, 2H025BE10
, 2H025BJ04
, 2H025FA12
, 2H025FA17
, 4J002BG071
, 4J002BG121
, 4J002EB076
, 4J002EB106
, 4J002EQ006
, 4J002EU016
, 4J002EU026
, 4J002EV296
, 4J002FD206
, 4J100AL08P
, 4J100AL08Q
, 4J100AM21Q
, 4J100AM21R
, 4J100BA03Q
, 4J100BA03R
, 4J100BA04Q
, 4J100BA04R
, 4J100BA05Q
, 4J100BA05R
, 4J100BA06Q
, 4J100BA06R
, 4J100BA16P
, 4J100BC07P
, 4J100BC07Q
, 4J100BC08P
, 4J100BC08Q
, 4J100BC09P
, 4J100BC09Q
, 4J100BC12P
, 4J100BC12Q
, 4J100CA01
, 4J100CA04
, 4J100CA05
, 4J100DA01
, 4J100JA38
引用特許:
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