特許

J-GLOBAL ID：200903051425273573

表面形状検出方法、表面形状検出センサ、表面形状検出装置、硬貨識別方法、硬貨識別装置、表面欠陥検査方法、表面欠陥検査装置および表面形状可視化装置

発明者： 山川 和廣 ,  田畑 和明
出願人/特許権者： 山川 和廣 ,  田畑 和明
代理人 (1件)： 廣瀬 哲夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-354568
公開番号（公開出願番号）：特開2003-156307
出願日： 2001年11月20日
公開日（公表日）： 2003年05月30日
要約：

【要約】【課題】 導体からなる被検体の表面形状を精度良く検出する。【解決手段】 方法としては、被検体2の表面に略平行な交流磁界を発生させる交流磁界発生工程と、前記被検体2の表面近傍で前記磁界に略平行な向きの磁束変化を検出する磁束変化検出工程とを備え、装置としては、被検体2の表面に略平行な交流磁界を発生させる交流磁界発生装置3と、前記被検体2の表面近傍で前記磁界に略平行な向きの磁束変化を検出する表面形状検出センサ4とを備える。

請求項（抜粋）：

導体からなる被検体の表面形状を検出する方法であって、前記被検体の表面に略平行な交流磁界を発生させる交流磁界発生工程と、前記被検体の表面近傍で前記磁界に略平行な向きの磁束変化を検出する磁束変化検出工程とを備えることを特徴とする表面形状検出方法。

IPC (4件)：

G01B 7/34 ,  G07D 5/02 104 ,  G07D 5/08 ,  G07D 5/08 103

FI (4件)：

G01B 7/34 Z ,  G07D 5/02 104 ,  G07D 5/08 ,  G07D 5/08 103

Fターム (17件)：

2F063AA43 ,  2F063BA30 ,  2F063BB02 ,  2F063BB05 ,  2F063BC06 ,  2F063DA01 ,  2F063DA05 ,  2F063DB04 ,  2F063DD07 ,  2F063GA08 ,  3E002AA04 ,  3E002AA06 ,  3E002BC02 ,  3E002BC06 ,  3E002BC09 ,  3E002CA06 ,  3E002EA05

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 導電体の疵検出装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-242947   出願人：新日本製鐵株式会社
• 漏洩磁束探傷装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-052730   出願人：新日本製鐵株式会社, 株式会社システムハイテック
• 金属体弁別装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-034620   出願人：株式会社高見沢サイバネティックス