特許
J-GLOBAL ID:200903051569041707
ニッケルめっき被膜の接着性劣化防止方法
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
清水 善▲廣▼ (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-269478
公開番号(公開出願番号):特開2003-073888
出願日: 2001年09月05日
公開日(公表日): 2003年03月12日
要約:
【要約】【課題】 ニッケルめっき被膜の表面に別の被膜を積層形成することなく、ニッケルめっき被膜の接着性の劣化を防止する方法を提供すること。【解決手段】 最外層としてニッケルめっき被膜を有する被めっき物における前記ニッケルめっき被膜について、その表面のX線光電子分光分析をX線源としてMgKα線を使用して行った際、結合エネルギー851.0eV〜854.0eVにおけるピーク面積(エリア851.0〜854.0)の、結合エネルギー851.0eV〜859.4eVにおけるピーク面積(エリア851.0〜859.4)に対する比率(エリア851.0〜854.0/エリア851.0〜859.4)が0.10以上の値となるように前記被めっき物を保持することを特徴とする。
請求項(抜粋):
最外層としてニッケルめっき被膜を有する被めっき物における前記ニッケルめっき被膜について、その表面のX線光電子分光分析をX線源としてMgKα線を使用して行った際、結合エネルギー851.0eV〜854.0eVにおけるピーク面積(エリア851.0〜854.0)の、結合エネルギー851.0eV〜859.4eVにおけるピーク面積(エリア851.0〜859.4)に対する比率(エリア851.0〜854.0/エリア851.0〜859.4)が0.10以上の値となるように前記被めっき物を保持することを特徴とするニッケルめっき被膜の接着性劣化防止方法。
IPC (6件):
C25D 7/00
, C22C 38/00 303
, C23C 18/32
, C25D 5/12
, H01F 41/02
, C22C 19/03
FI (6件):
C25D 7/00 K
, C22C 38/00 303 D
, C23C 18/32
, C25D 5/12
, H01F 41/02 G
, C22C 19/03 L
Fターム (27件):
4K022AA02
, 4K022AA44
, 4K022BA04
, 4K022BA14
, 4K022BA16
, 4K022BA19
, 4K022BA32
, 4K022DA01
, 4K022DB02
, 4K022DB03
, 4K022DB08
, 4K022EA02
, 4K024AA03
, 4K024AA15
, 4K024AB01
, 4K024AB02
, 4K024AB03
, 4K024AB04
, 4K024AB17
, 4K024BA01
, 4K024BA02
, 4K024BB14
, 4K024BC07
, 4K024DB10
, 4K024GA01
, 5E062CD04
, 5E062CG07
引用特許:
出願人引用 (7件)
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審査官引用 (3件)
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