特許
J-GLOBAL ID:200903051583837620
試料交換機を有する分析システム
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
杉本 修司 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-196997
公開番号(公開出願番号):特開2001-021457
出願日: 1999年07月12日
公開日(公表日): 2001年01月26日
要約:
【要約】【課題】 試料の扱いが容易な試料交換機を有する分析システムを提供する。【解決手段】 分析システムは、試料Sを分析する分析装置51と、複数の試料Sを保持する試料テーブル2およびこの試料テーブル2から試料Sを取り出して分析装置51へ搬送する搬送手段3を備えた試料交換機1とを有する。前記試料テーブル2は、基台21と、前記試料Sを保持し前記基台21に対して基台21の前方Fへ引き出し可能に支持されたトレー24とを備える。これにより、特に扱いの容易でない試料テーブル2の奥に位置する試料Sでも、トレー24を基台21から前方Fへ引き出すことにより、立ち上がることなく、例えば椅子に座ったままで、試料Sを容易に扱うことができる。また、基台21から取り外してトレー24を分析装置51の制御装置であるコンピュータ53の前まで運べるので、トレー24へ試料Sを装填しながら、試料Sに関する1Dデータをコンピュータへ入力でき、入力ミスが防止される。
請求項(抜粋):
試料を分析する分析装置と、複数の前記試料を保持する試料テーブルおよびこの試料テーブルから試料を取り出して前記分析装置へ搬送する搬送手段を備えた試料交換機とを有する分析システムであって、前記試料テーブルは、基台と、前記試料を保持し前記基台に対して基台の前方へ引き出し可能に支持されたトレーとを備えている分析システム。
IPC (3件):
G01N 1/00 101
, G01N 23/207
, G01N 23/223
FI (3件):
G01N 1/00 101 B
, G01N 23/207
, G01N 23/223
Fターム (9件):
2G001AA01
, 2G001BA04
, 2G001BA18
, 2G001CA01
, 2G001PA02
, 2G001PA06
, 2G001PA11
, 2G001PA14
, 2G001PA30
引用特許:
審査官引用 (5件)
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オ-トサンプラ
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-140814
出願人:株式会社島津製作所
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試料交換装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平3-360176
出願人:株式会社島津製作所
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特開昭64-059043
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臨床用複合分析装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-268232
出願人:株式会社島津製作所
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蛍光X線分析装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平10-276754
出願人:理学電機工業株式会社
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